Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(48)
Albarbar, Alhussein. author.
(1)
Azevedo, Rodolfo. editor.
(1)
Azimi, Maryam.
(1)
Bailey, Brian. author.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(38)
Electronics.
(18)
Circuits and Systems.
(16)
Electronic books.
(11)
Electronic Circuits and Devices.
(9)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
65 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Dependability in Electronic Systems Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances için kapak resmi
Dependability in Electronic Systems Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances
Yazar 
Kanekawa, Nobuyasu. author. Ibe, Eishi H. author. Suga, Takashi. author. Uematsu, Yutaka. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6715-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Nano-Electronic Devices Semiclassical and Quantum Transport Modeling için kapak resmi
Nano-Electronic Devices Semiclassical and Quantum Transport Modeling
Yazar 
Vasileska, Dragica. editor. Goodnick, Stephen M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8840-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
ESL Models and their Application Electronic System Level Design and Verification in Practice için kapak resmi
ESL Models and their Application Electronic System Level Design and Verification in Practice
Yazar 
Bailey, Brian. author. Martin, Grant. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0965-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Platform Based Design at the Electronic System Level Industry Perspectives and Experiences için kapak resmi
Platform Based Design at the Electronic System Level Industry Perspectives and Experiences
Yazar 
Burton, Mark. author. Morawiec, Adam. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5138-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Dynamic and Robust Streaming in and between Connected Consumer-Electronic Devices için kapak resmi
Dynamic and Robust Streaming in and between Connected Consumer-Electronic Devices
Yazar 
Stok, Peter. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3454-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations için kapak resmi
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Yazar 
Champac, Victor. author. Garcia Gervacio, Jose. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-75465-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault için kapak resmi
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Yazar 
Wunderlich, Hans-Joachim. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3282-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
New Methods of Concurrent Checking için kapak resmi
New Methods of Concurrent Checking
Yazar 
Göessel, Michael. author. Ocheretny, Vitaly. author. Sogomonyan, Egor. author. Marienfeld, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8420-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition için kapak resmi
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition
Yazar 
Sachdev, Manoj. editor. Gyvez, José Pineda de. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting için kapak resmi
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
Yazar 
Gizopoulos, Dimitris. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç