Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation için kapak resmi
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation
Yazar 
Lundstrom, Mark S. author. Guo, Jing. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28003-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Fundamentals of Solid State Engineering için kapak resmi
Fundamentals of Solid State Engineering
Yazar 
Razeghi, Manijeh. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28751-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Micromachined Thin-Film Sensors for SOI-CMOS Co-Integration için kapak resmi
Micromachined Thin-Film Sensors for SOI-CMOS Co-Integration
Yazar 
Laconte, J. author. Flandre, D. author. Raskin, J. -P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28843-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics için kapak resmi
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics
Yazar 
Ogale, Satischandra B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136780
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Materials for Information Technology Devices, Interconnects and Packaging için kapak resmi
Materials for Information Technology Devices, Interconnects and Packaging
Yazar 
Zschech, Ehrenfried. editor. Whelan, Caroline. editor. Mikolajick, Thomas. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-235-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Hutchison, J. L. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-31915-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: