Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Process control -- Statistical methods.
(20)
Quality control -- Statistical methods.
(10)
Electronic books.
(5)
Chemical process control -- Statistical methods.
(2)
Experimental design.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
25 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Statistical control by monitoring and adjustment için kapak resmi
Statistical control by monitoring and adjustment
Yazar 
Box, George E. P. Luceño, Alberto. Paniagua-Quiñones, María del Carmen.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Click here to view book
ebrary http://site.ebrary.com/id/10501391
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=848509
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Statistical quality control : a modern introduction için kapak resmi
Statistical quality control : a modern introduction
Yazar 
Montgomery, Douglas C.
Yer Numarası 
TS156 M66 2009
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Statistical process control için kapak resmi
Statistical process control
Yazar 
Oakland, John S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750669627
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Chemical process performance evaluation için kapak resmi
Chemical process performance evaluation
Yazar 
Cinar, Ali. Palazo?lu, Ahmet. Kayihan, Ferhan, 1948-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Bayesian process monitoring, control and optimization için kapak resmi
Bayesian process monitoring, control and optimization
Yazar 
Colosimo, Bianca M. Del Castillo, Enrique.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control için kapak resmi
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control
Yazar 
May, Gary S. Spanos, Costas J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201952
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Generic drug product development : solid oral dosage forms için kapak resmi
Generic drug product development : solid oral dosage forms
Yazar 
Shargel, Leon, 1941- Kanfer, Isadore.
Yer Numarası 
QV 704 D8426 2005
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Introduction to statistical quality control için kapak resmi
Introduction to statistical quality control
Yazar 
Montgomery, Douglas C.
Yer Numarası 
TS156 .M64 2005
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Mastering statistical process control a handbook for performance improvement using cases için kapak resmi
Mastering statistical process control a handbook for performance improvement using cases
Yazar 
Stapenhurst, Tim.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750665292
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Statistical methods for six sigma in R & D and manufacturing için kapak resmi
Statistical methods for six sigma in R & D and manufacturing
Yazar 
Joglekar, Anand M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click for information
Full text available from Wiley InterScience
Authentication may be required
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471721212
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley044/2003003583.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Statistical process control the Deming paradigm and beyond için kapak resmi
Statistical process control the Deming paradigm and beyond
Yazar 
Thompson, James R., 1938- Koronacki, Jacek.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Guidelines for improving plant reliability through data collection and analysis için kapak resmi
Guidelines for improving plant reliability through data collection and analysis
Yazar 
American Institute of Chemical Engineers. Center for Chemical Process Safety. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470935262
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: