Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(189)
Le, Tao.
(12)
Dulan, Steven W.
(10)
Advantage Education (Firm)
(9)
Graduate Record Examinations Board.
(8)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Test-taking skills.
(103)
Universities and colleges -- Entrance examinations -- Study guides.
(50)
Mathematics -- Examinations -- Study guides.
(35)
College entrance achievement tests -- Study guides.
(34)
Advanced placement programs (Education) -- Examinations -- Study guides.
(32)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
940 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Koklear implantlı hastalarda objektif ve subjektif test yöntemlerinin karşılaştırılması için kapak resmi
Koklear implantlı hastalarda objektif ve subjektif test yöntemlerinin karşılaştırılması
Yazar 
Bülbül Börü, Aslı.
Yer Numarası 
TEZ WV 270 B933 2008
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
İngilizce test kılavuzu = A guidebook for English tests "Practice tests for proficiency in English" için kapak resmi
İngilizce test kılavuzu = A guidebook for English tests "Practice tests for proficiency in English"
Yazar 
Boztaş, İsmail. Aksoy, Ziya. Kocaman, Ahmet.
Yer Numarası 
PE1498 .B719 2008
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach için kapak resmi
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach
Yazar 
Yichuang Sun, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date için kapak resmi
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date
Yazar 
Lauwereins, Rudy. editor. Madsen, Jan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6488-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Disk makaslama indeks deneyi ile daynım anizotropisinin araştırılması = Investigation of strenght anisotrophy by the block punch index test için kapak resmi
Disk makaslama indeks deneyi ile daynım anizotropisinin araştırılması = Investigation of strenght anisotrophy by the block punch index test
Yazar 
Karakul, Hasan
Yer Numarası 
TEZ/8551 .K373 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Kromozom kusurlarının prenatal taramasında üçlü test ile yapay sinir ağları kullanan akıllı tanı sisteminin karşılaştırılması için kapak resmi
Kromozom kusurlarının prenatal taramasında üçlü test ile yapay sinir ağları kullanan akıllı tanı sisteminin karşılaştırılması
Yazar 
Katlan, Doruk Cevdi.
Yer Numarası 
TEZ WQ 209 K1966 2008
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Klasik test kuramı genellenebilirlik kuramı ve Rasch modeli üzerine bir araştırma/Neşe Güler. için kapak resmi
Klasik test kuramı genellenebilirlik kuramı ve Rasch modeli üzerine bir araştırma/Neşe Güler.
Yazar 
Güler, Neşe.
Yer Numarası 
TEZ 8623 .G854 2008
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Fen - Mühendislik fakülteleri ve yüksek okul öğrencileri için matematik analiz ve analitik geometri problem çözümleri (ek test ve çözüm ilaveli) için kapak resmi
Fen - Mühendislik fakülteleri ve yüksek okul öğrencileri için matematik analiz ve analitik geometri problem çözümleri (ek test ve çözüm ilaveli)
Yazar 
Edwards, C. Henry. Penney, D. Akın, Ömer.
Yer Numarası 
QA 37.2 E248 2008 V.1
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
10. 
The Testing Network An Integral Approach to Test Activities in Large Software Projects için kapak resmi
The Testing Network An Integral Approach to Test Activities in Large Software Projects
Yazar 
Henry, Pierre. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-78504-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Design of Systems on a Chip: Design and Test için kapak resmi
Design of Systems on a Chip: Design and Test
Yazar 
Reis, Ricardo. editor. Lubaszewski, Marcelo. editor. Jess, Jochen A.G. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32500-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Test- und Prüfungsaufgaben Regelungstechnik 457 durchgerechnete Beispiele mit analytischen, nummerischen und computeralgebraischen Lösungen in MATLAB und MAPLE için kapak resmi
Test- und Prüfungsaufgaben Regelungstechnik 457 durchgerechnete Beispiele mit analytischen, nummerischen und computeralgebraischen Lösungen in MATLAB und MAPLE
Yazar 
Weinmann, Alexander. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-37139-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç