Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(377)
Pichler, Franz. editor.
(7)
Moreno-Díaz, Roberto. editor.
(5)
Quesada-Arencibia, Alexis. editor.
(5)
Barthès, Jean-Paul A. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
2011
(67)
2010
(42)
2006
(40)
2012
(39)
2007
(38)
Konu
Engineering.
(253)
Systems engineering.
(144)
Computer science.
(118)
Engineering design.
(61)
Artificial intelligence.
(46)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
377 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
301. 
Routing Congestion in VLSI Circuits: Estimation and Optimization için kapak resmi
Routing Congestion in VLSI Circuits: Estimation and Optimization
Yazar 
Saxena, Prashant. author. Shelar, Rupesh S. author. Sapatnekar, Sachin S. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-48550-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
302. 
SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions için kapak resmi
SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions
Yazar 
Ganai, Malay K. author. Gupta, Aarti. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69167-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
303. 
Global Specification and Validation of Embedded Systems Integrating Heterogeneous Components için kapak resmi
Global Specification and Validation of Embedded Systems Integrating Heterogeneous Components
Yazar 
Nicolescu, G. editor. Jerraya, A. A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6153-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
304. 
Full-Chip Nanometer Routing Techniques için kapak resmi
Full-Chip Nanometer Routing Techniques
Yazar 
Ho, Tsung-Yi. author. Chang, Yao-Wen. author. Chen, Sao-Jie. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6195-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
305. 
Computer-Aided Architectural Design Futures (CAADFutures) 2007 Proceedings of the 12th International CAADFutures Conference için kapak resmi
Computer-Aided Architectural Design Futures (CAADFutures) 2007 Proceedings of the 12th International CAADFutures Conference
Yazar 
Dong, Andy. editor. Moere, Andrew Vande. editor. Gero, John S. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6528-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
306. 
Rapid Prototyping of Digital Systems için kapak resmi
Rapid Prototyping of Digital Systems
Yazar 
Hamblen, James O. author. Hall, Tyson S. author. Furman, Michael D. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28965-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
307. 
Thermal and Power Management of Integrated Circuits için kapak resmi
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Yazar 
Vassighi, Arman. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29749-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
308. 
Scalable Hardware Verification with Symbolic Simulation için kapak resmi
Scalable Hardware Verification with Symbolic Simulation
Yazar 
Bertacco, Valeria. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29906-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
309. 
Embedded System Design için kapak resmi
Embedded System Design
Yazar 
Marwedel, Peter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-30087-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
310. 
Constraint-Based Verification için kapak resmi
Constraint-Based Verification
Yazar 
Yuan, Jun. author. Pixley, Carl. author. Aziz, Adnan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-30784-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
311. 
Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking için kapak resmi
Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking
Yazar 
Wang, Chao. author. Hachtel, Gary D. author. Somenzi, Fabio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34600-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
312. 
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ için kapak resmi
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Yazar 
Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç