Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(377)
Pichler, Franz. editor.
(7)
Moreno-Díaz, Roberto. editor.
(5)
Quesada-Arencibia, Alexis. editor.
(5)
Barthès, Jean-Paul A. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
2011
(67)
2010
(42)
2006
(40)
2012
(39)
2007
(38)
Konu
Engineering.
(253)
Systems engineering.
(144)
Computer science.
(118)
Engineering design.
(61)
Artificial intelligence.
(46)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
377 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Assembly Line Design The Balancing of Mixed-Model Hybrid Assembly Lines with Genetic Algorithms için kapak resmi
Assembly Line Design The Balancing of Mixed-Model Hybrid Assembly Lines with Genetic Algorithms
Yazar 
Rekiek, Brahim. author. Delchambre, Alain. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138846
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Adobe® Acrobat® and PDF for Architecture, Engineering, and Construction için kapak resmi
Adobe® Acrobat® and PDF for Architecture, Engineering, and Construction
Yazar 
Carson, Tom. author. Baker, Donna L. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-138-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Practical Grey-box Process Identification Theory and Applications için kapak resmi
Practical Grey-box Process Identification Theory and Applications
Yazar 
Bohlin, Torsten. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-403-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Large-Scale Scientific Computing 5th International Conference, LSSC 2005, Sozopol, Bulgaria, June 6-10, 2005. Revised Papers için kapak resmi
Large-Scale Scientific Computing 5th International Conference, LSSC 2005, Sozopol, Bulgaria, June 6-10, 2005. Revised Papers
Yazar 
Lirkov, Ivan. editor. Margenov, Svetozar. editor. Waśniewski, Jerzy. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11666806
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Feature Extraction Foundations and Applications için kapak resmi
Feature Extraction Foundations and Applications
Yazar 
Guyon, Isabelle. editor. Nikravesh, Masoud. editor. Gunn, Steve. editor. Zadeh, Lotfi A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-35488-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Semiconductor Modeling For Simulating Signal, Power, and Electromagnetic Integrity için kapak resmi
Semiconductor Modeling For Simulating Signal, Power, and Electromagnetic Integrity
Yazar 
Leventhal, Roy G. author. Green, Lynne. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b104647
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Verification Methodology Manual for SystemVerilog için kapak resmi
Verification Methodology Manual for SystemVerilog
Yazar 
Bergeron, Janick. author. Cerny, Eduard. author. Hunter, Alan. author. Nightingale, Andrew. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135575
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies için kapak resmi
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
Yazar 
Elgamel, Mohamed A. author. Bayoumi, Magdy A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29366-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Thermal and Power Management of Integrated Circuits için kapak resmi
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Yazar 
Vassighi, Arman. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29749-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Constraint-Based Verification için kapak resmi
Constraint-Based Verification
Yazar 
Yuan, Jun. author. Pixley, Carl. author. Aziz, Adnan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-30784-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Knowledge Enterprise: Intelligent Strategies in Product Design, Manufacturing, and Management Proceedings of PROLAMAT 2006, IFIP TC5 International Conference, June 15–17, 2006, Shanghai, China için kapak resmi
Knowledge Enterprise: Intelligent Strategies in Product Design, Manufacturing, and Management Proceedings of PROLAMAT 2006, IFIP TC5 International Conference, June 15–17, 2006, Shanghai, China
Yazar 
Wang, Kesheng. editor. Kovacs, George L. editor. Wozny, Michael. editor. Fang, Minglun. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34403-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ için kapak resmi
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Yazar 
Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç