Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(11)
Voldman, Steven H.
(2)
Afanas'ev, Valeri V.
(1)
Angmo, Dechan.
(1)
Bahl, I. J.
(1)
Dil
Konu
Semiconductors.
(13)
Electronic circuits.
(9)
Metal oxide semiconductors, Complementary.
(3)
Microprocessors.
(3)
Electronics.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
34 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Silicon-On-Insulator (SOI) Technology Manufacture and Applications. için kapak resmi
Silicon-On-Insulator (SOI) Technology Manufacture and Applications.
Yazar 
Kononchuk, O. Nguyen, B.-Y.
Yer Numarası 
ONLINE(355710.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780857095268
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Integrated power devices and TCAD simulation için kapak resmi
Integrated power devices and TCAD simulation
Yazar 
Fu, Yue (Electrical engineer), author. Li, Zhanming, author. Ng, Wai Tung, author. Sin, Johnny K. O., author.
Yer Numarası 
ONLINE(356761.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Electrical overstress (EOS) : devices, circuits, and systems için kapak resmi
Electrical overstress (EOS) : devices, circuits, and systems
Yazar 
Voldman, Steven H.
Yer Numarası 
TK7871.852 V648 2014
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications için kapak resmi
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Yazar 
Franco, Jacopo. author. Kaczer, Ben. author. Groeseneken, Guido. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System için kapak resmi
Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System
Yazar 
Samukawa, Seiji. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-54795-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits için kapak resmi
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Yazar 
Liu, Xiao. author. Xu, Qiang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch için kapak resmi
MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch
Yazar 
Srivastava, Viranjay M. author. Singh, Ghanshyam. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-01165-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization için kapak resmi
Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization
Yazar 
Richter, Detlev. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-6082-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Semiconductor Technologies in the Era of Electronics için kapak resmi
Semiconductor Technologies in the Era of Electronics
Yazar 
Kang, Yong Hoon. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-017-8768-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets