Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(39)
Bhushan, Bharat. editor.
(10)
Fuchs, Harald. editor.
(9)
Tomitori, Masahiko. editor.
(3)
Kawata, Satoshi. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
39 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation için kapak resmi
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation
Yazar 
Lundstrom, Mark S. author. Guo, Jing. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28003-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Yazar 
Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Solid State NMR Spectroscopy for Biopolymers Principles and Applications için kapak resmi
Solid State NMR Spectroscopy for Biopolymers Principles and Applications
Yazar 
Saitô, Hazime. author. Ando, Isao. author. Naito, Akira. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4303-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Planewaves, Pseudopotentials and the LAPW Method için kapak resmi
Planewaves, Pseudopotentials and the LAPW Method
Yazar 
Singh, David J. author. Nordström, Lars. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29684-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Applied Scanning Probe Methods III Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods III Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138285
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138289
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis için kapak resmi
Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis
Yazar 
Beckhoff, Burkhard. editor. Kanngießer, habil. Birgit. editor. Langhoff, Norbert. editor. Wedell, Reiner. editor. Wolff, Helmut. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-36722-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Metalle Struktur und Eigenschaften der Metalle und Legierungen için kapak resmi
Metalle Struktur und Eigenschaften der Metalle und Legierungen
Yazar 
Hornbogen, Erhard. author. Warlimont, Hans. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-34011-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics için kapak resmi
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics
Yazar 
Ogale, Satischandra B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136780
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Electron Scattering From Atoms, Molecules, Nuclei, and Bulk Matter için kapak resmi
Electron Scattering From Atoms, Molecules, Nuclei, and Bulk Matter
Yazar 
Whelan, Colm T. editor. Mason, Nigel J. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-27567-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Hutchison, J. L. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-31915-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets