Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
34 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11785705
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Physics of Zero- and One-Dimensional Nanoscopic Systems için kapak resmi
Physics of Zero- and One-Dimensional Nanoscopic Systems
Yazar 
Karmakar, Sachindra Nath. editor. Maiti, Santanu Kumar. editor. Chowdhury, Jayeeta. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72632-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation için kapak resmi
Nanoscale Transistors Device Physics, Modeling and Simulation
Yazar 
Lundstrom, Mark S. author. Guo, Jing. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28003-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Applied Scanning Probe Methods III Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods III Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138285
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138289
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Magnetism From Fundamentals to Nanoscale Dynamics için kapak resmi
Magnetism From Fundamentals to Nanoscale Dynamics
Yazar 
Stöhr, Joachim. author. Siegmann, Hans Christoph. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-30283-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Yazar 
Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Surface-Enhanced Raman Scattering Physics and Applications için kapak resmi
Surface-Enhanced Raman Scattering Physics and Applications
Yazar 
Kneipp, Katrin. editor. Moskovits, Martin. editor. Kneipp, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-33567-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Properties and Applications of Nanocrystalline Alloys from Amorphous Precursors için kapak resmi
Properties and Applications of Nanocrystalline Alloys from Amorphous Precursors
Yazar 
Idzikowski, Bogdan. editor. Švec, Peter. editor. Miglierini, Marcel. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-2965-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets