Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(27)
Bhateja, Vikrant. editor.
(4)
Auer, Michael E. editor.
(3)
Milazzo, Alberto. editor.
(3)
Rizzo, Piervincenzo. editor.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Cyber-Physical Systems.
(27)
Industrial engineering.
(17)
Industrial and Production Engineering.
(15)
Production engineering.
(15)
Artificial intelligence.
(13)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
27 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Production Planning and Control in Semiconductor Manufacturing Big Data Analytics and Industry 4.0 Applications için kapak resmi
Production Planning and Control in Semiconductor Manufacturing Big Data Analytics and Industry 4.0 Applications
Yazar 
Chen, Tin-Chih Toly. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-14065-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
European Workshop on Structural Health Monitoring EWSHM 2022 - Volume 1 için kapak resmi
European Workshop on Structural Health Monitoring EWSHM 2022 - Volume 1
Yazar 
Rizzo, Piervincenzo. editor. Milazzo, Alberto. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-07254-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Advances in System-Integrated Intelligence Proceedings of the 6th International Conference on System-Integrated Intelligence (SysInt 2022), September 7-9, 2022, Genova, Italy için kapak resmi
Advances in System-Integrated Intelligence Proceedings of the 6th International Conference on System-Integrated Intelligence (SysInt 2022), September 7-9, 2022, Genova, Italy
Yazar 
Valle, Maurizio. editor. Lehmhus, Dirk. editor. Gianoglio, Christian. editor. Ragusa, Edoardo. editor. Seminara, Lucia. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-16281-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets