Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(35)
Ao, Sio-Iong. editor.
(2)
Leondes, Cornelius T.
(2)
Oklobdzija, Vojin G.
(2)
Ahmed, Nisar. author.
(1)
Dil
Konu
Computer engineering.
(33)
Engineering.
(28)
Systems engineering.
(13)
Telecommunication.
(11)
Computer science.
(9)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
51 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Nanometer CMOS ICs From basics to ASICs için kapak resmi
Nanometer CMOS ICs From basics to ASICs
Yazar 
Veendrick, H. J. M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8333-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Digital systems and applications için kapak resmi
Digital systems and applications
Yazar 
Oklobdzija, Vojin G.
Yer Numarası 
TK7885 .D56 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
RF and microwave circuits, measurements, and modeling için kapak resmi
RF and microwave circuits, measurements, and modeling
Yazar 
Golio, John Michael, 1954-
Yer Numarası 
TK7876 .R487 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Computational intelligence in biomedical engineering için kapak resmi
Computational intelligence in biomedical engineering
Yazar 
Begg, Rezaul., author. Lai, Daniel T. H. Palaniswami, Marimuthu.
Yer Numarası 
R859.7 .A78 B44 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Insider computer fraud : an in-depth framework for detecting and defending against insider IT attacks için kapak resmi
Insider computer fraud : an in-depth framework for detecting and defending against insider IT attacks
Yazar 
Brancik, Kenneth C., author.
Yer Numarası 
QA76.9 .A25 B725 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Encyclopedia of Algorithms için kapak resmi
Encyclopedia of Algorithms
Yazar 
Kao, Ming-Yang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-30162-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Adaptive Filtering Algorithms and Practical Implementation için kapak resmi
Adaptive Filtering Algorithms and Practical Implementation
Yazar 
Diniz, Paulo S. R. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-68606-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Bandwidth Extension of Speech Signals için kapak resmi
Bandwidth Extension of Speech Signals
Yazar 
Iser, Bernd. editor. Minker, Wolfgang. editor. Schmidt, Gerhard. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-68899-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Power Distribution Networks with On-Chip Decoupling Capacitors için kapak resmi
Power Distribution Networks with On-Chip Decoupling Capacitors
Yazar 
Popovich, Mikhhail. author. Mezhiba, Andrey V. author. Friedman, Eby G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71601-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Rapid Prototyping of Digital Systems için kapak resmi
Rapid Prototyping of Digital Systems
Yazar 
Hamblen, James O. author. Hall, Tyson S. author. Furman, Michael D. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-72671-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Modern Power Systems Analysis için kapak resmi
Modern Power Systems Analysis
Yazar 
Wang, Xi-Fan. author. Song, Yonghua. author. Irving, Malcolm. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-72853-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç