Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(29)
Bondavalli, Andrea. editor.
(2)
Vinnem, Jan-Erik. author.
(2)
A Min, Tjoa. editor.
(1)
Adams, Kevin MacG. author.
(1)
Dil
Konu
Reliability.
(21)
Industrial safety.
(18)
Quality control.
(17)
Reliability (Engineering)
(8)
Electronic circuits.
(4)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
48 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Infrastructure health in civil engineering için kapak resmi
Infrastructure health in civil engineering
Yazar 
Ettouney, Mohammed. Alampalli, Sreenivas.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
The International Handbook of Space Technology için kapak resmi
The International Handbook of Space Technology
Yazar 
Macdonald, Malcolm. editor. Badescu, Viorel. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-41101-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology için kapak resmi
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-36359-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Tokamak Engineering Mechanics için kapak resmi
Tokamak Engineering Mechanics
Yazar 
Song, Yuntao. author. Wu, Weiyue. author. Du, Shijun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39575-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Design for Manufacturability From 1D to 4D for 90–22 nm Technology Nodes için kapak resmi
Design for Manufacturability From 1D to 4D for 90–22 nm Technology Nodes
Yazar 
Balasinski, Artur. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-1761-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Project Quality Management Critical Success Factors for Buildings için kapak resmi
Project Quality Management Critical Success Factors for Buildings
Yazar 
Low, Sui Pheng. author. Ong, Joy. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-287-074-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Methods and applications of statistics in clinical trials. Volume 2, Planning, analysis, and inferential methods için kapak resmi
Methods and applications of statistics in clinical trials. Volume 2, Planning, analysis, and inferential methods
Yazar 
Balakrishnan, N., 1956- editor.
Yer Numarası 
ONLINE(341612.1)
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118596333
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Gas insulated substations için kapak resmi
Gas insulated substations
Yazar 
Koch, Hermann, 1954- editor.
Yer Numarası 
ONLINE(341674.1)
Elektronik Erişim 
ebrary An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118694534
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Probabilistic design for optimization and robustness for engineers için kapak resmi
Probabilistic design for optimization and robustness for engineers
Yazar 
Dodson, Bryan, 1962- author. Hammett, Patrick C., author. Klerx, Rene, author.
Yer Numarası 
ONLINE(341796.1)
Elektronik Erişim 
Available by subscription from Safari Books Online
ebrary http://alltitles.ebrary.com/Doc?id=10896040
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118796245
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9781118796306
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Modern industrial statistics : with applications in R, MINITAB and JMP için kapak resmi
Modern industrial statistics : with applications in R, MINITAB and JMP
Yazar 
Kenett, Ron. Amberti, Daniele, contributor. Zacks, Shelemyahu, 1932-
Yer Numarası 
ONLINE(341751.1)
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118763667
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Risk analysis in engineering and economics için kapak resmi
Risk analysis in engineering and economics
Yazar 
Ayyub, Bilal M., author.
Yer Numarası 
ONLINE(357082.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: