Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(8)
Akolkar, Rohan N. editor.
(1)
Barkey, Dale P. editor.
(1)
Bhaskar, D. R. author.
(1)
Bhateja, Vikrant. editor. (orcid)0000-0002-3259-8874
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(17)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(17)
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(7)
Electronic Circuits and Systems.
(5)
Electronic circuits.
(5)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
27 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling için kapak resmi
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Yazar 
Mahapatra, Souvik. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-81-322-2508-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Current Conveyors Variants, Applications and Hardware Implementations için kapak resmi
Current Conveyors Variants, Applications and Hardware Implementations
Yazar 
Senani, Raj. author. Bhaskar, D. R. author. Singh, A. K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-08684-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Copper Electrodeposition for Nanofabrication of Electronics Devices için kapak resmi
Copper Electrodeposition for Nanofabrication of Electronics Devices
Yazar 
Kondo, Kazuo. editor. Akolkar, Rohan N. editor. Barkey, Dale P. editor. Yokoi, Masayuki. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-9176-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: