Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(6)
Cressler, John D.
(3)
Armstrong, G. A.
(2)
Maiti, C. K., author.
(2)
Mayer, James W., 1930-
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(10)
Semiconductors.
(8)
Electronics.
(7)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(6)
Germanium.
(4)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
44 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
CRC Handbook of Thermoelectrics için kapak resmi
CRC Handbook of Thermoelectrics
Yazar 
Rowe, D.M., editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK2950
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Main group strategies towards functional hybrid materials için kapak resmi
Main group strategies towards functional hybrid materials
Yazar 
Baumgartner, Thomas, 1968- editor. Jäkle, Frieder, 1969- editor.
Yer Numarası 
TA418.9 .C6
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119235941
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
SiGe-based Re-engineering of Electronic Warfare Subsystems için kapak resmi
SiGe-based Re-engineering of Electronic Warfare Subsystems
Yazar 
Lambrechts, Wynand. author. Sinha, Saurabh. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-47403-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
MOS devices for low-voltage and low-energy applications için kapak resmi
MOS devices for low-voltage and low-energy applications
Yazar 
Omura, Y. (Yasuhisa), author. Mallik, Abhijit, author. Matsuo, N. (Naoto), author.
Yer Numarası 
TK7871.99 .M44
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119107361
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices için kapak resmi
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-08994-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Subsecond Annealing of Advanced Materials Annealing by Lasers, Flash Lamps and Swift Heavy Ions için kapak resmi
Subsecond Annealing of Advanced Materials Annealing by Lasers, Flash Lamps and Swift Heavy Ions
Yazar 
Skorupa, Wolfgang. editor. Schmidt, Heidemarie. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-03131-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Nanomaterials for lithium-ion batteries : fundamentals and applications için kapak resmi
Nanomaterials for lithium-ion batteries : fundamentals and applications
Yazar 
Yazami, Rachid, editor.
Yer Numarası 
TK2945 .L58 N36 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Strain-engineered MOSFETs için kapak resmi
Strain-engineered MOSFETs
Yazar 
Maiti, C. K., author. Maiti, T. K.
Yer Numarası 
TK7871.99 .M44 M248 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Nanostructured semiconductors : from basic research to applications için kapak resmi
Nanostructured semiconductors : from basic research to applications
Yazar 
Granitzer, Petra, editor. Rumpf, Klemens Konrad Maria, editor.
Yer Numarası 
TK7871.85 .N36 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Handbook of nanophysics. Nanotubes and nanowires için kapak resmi
Handbook of nanophysics. Nanotubes and nanowires
Yazar 
Sattler, Klaus D.
Yer Numarası 
TA418.9 .N35 H365 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Defects in microelectronic materials and devices için kapak resmi
Defects in microelectronic materials and devices
Yazar 
Fleetwood, D. M. (Dan M.) Pantelides, Sokrates T. Schrimpf, Ronald Donald.
Yer Numarası 
TK7871 .D44 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
SiGe and Si strained-layer epitaxy for silicon heterostructure devices için kapak resmi
SiGe and Si strained-layer epitaxy for silicon heterostructure devices
Yazar 
Cressler, John D.
Yer Numarası 
TK7871.96 .B55 S53 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: