Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(57)
Taylor and Francis.
(4)
Duong, Trung Q., editor.
(2)
Fakhfakh, Mourad. editor.
(2)
Ilyas, Mohammad, 1953-
(2)
Dil
English
(183)
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(50)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(34)
Computer science.
(13)
Operating systems (Computers).
(13)
Performance and Reliability.
(13)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
183 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Integrating metaheuristics in computer vision for real-world optimization problems için kapak resmi
Integrating metaheuristics in computer vision for real-world optimization problems
Yer Numarası 
TA1637 .I58 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394230952
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
CompTIA DataSys+ study guide : exam DSO-001 için kapak resmi
CompTIA DataSys+ study guide : exam DSO-001
Yazar 
Chapple, Mike, 1975- author. Nijim, Sharif, author.
Yer Numarası 
QA76.3 .C43 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394277094
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Thermal management materials for electronic packaging : preparation, characterization, and devices için kapak resmi
Thermal management materials for electronic packaging : preparation, characterization, and devices
Yazar 
Tian, Xingyou, editor.
Yer Numarası 
TK7870.15
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527843121
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Smart edge computing : an operation research perspective için kapak resmi
Smart edge computing : an operation research perspective
Yazar 
Chakraborty, Rajdeep, editor. Ghosh, Anupam, editor. Mandal, Jyotsna Kumar, editor. Choudhury, Tanupriya, editor. Chatterjee, Prasenjit, editor.
Yer Numarası 
QA76.583
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394277599
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Reliability analysis of modern power systems için kapak resmi
Reliability analysis of modern power systems
Yazar 
Saket, R. K., editor. Sanjeevikumar, Padmanaban, 1978-
Yer Numarası 
TA169 .S234 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394226771
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Mixed-flow pumps : modeling, simulation, and measurements için kapak resmi
Mixed-flow pumps : modeling, simulation, and measurements
Yazar 
Li, Wei (Professor of engineering), author. Ji, Leilei, author. Agarwal, R. K. (Ramesh K.), author. Shi, Weidong (College presidents), author. Zhou, Ling (Professor), author.
Yer Numarası 
TJ919 .L38 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119910381
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Advanced Communication and Intelligent Systems Second International Conference, ICACIS 2023, Warsaw, Poland, June 16-17, 2023, Revised Selected Papers, Part II için kapak resmi
Advanced Communication and Intelligent Systems Second International Conference, ICACIS 2023, Warsaw, Poland, June 16-17, 2023, Revised Selected Papers, Part II
Yazar 
Shaw, Rabindra Nath. editor. Paprzycki, Marcin. editor. Ghosh, Ankush. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-45124-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Computer Safety, Reliability, and Security. SAFECOMP 2023 Workshops ASSURE, DECSoS, SASSUR, SENSEI, SRToITS, and WAISE, Toulouse, France, September 19, 2023, Proceedings için kapak resmi
Computer Safety, Reliability, and Security. SAFECOMP 2023 Workshops ASSURE, DECSoS, SASSUR, SENSEI, SRToITS, and WAISE, Toulouse, France, September 19, 2023, Proceedings
Yazar 
Guiochet, Jérémie. editor. Tonetta, Stefano. editor. Schoitsch, Erwin. editor. Roy, Matthieu. editor. Bitsch, Friedemann. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-40953-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging için kapak resmi
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
Yazar 
Gan, Chong Leong,. author. Huang, Chen-Yu,. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-26708-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Proceedings of China SAE Congress 2022: Selected Papers için kapak resmi
Proceedings of China SAE Congress 2022: Selected Papers
Yazar 
SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-1365-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory için kapak resmi
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory
Yazar 
Mizutani, Satoshi. author. Zhao, Xufeng. author. Nakagawa, Toshio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-27316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç