Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Chakrabarty, Krishnendu. author.
(3)
Drechsler, Rolf. author.
(3)
Calinescu, Radu. editor.
(2)
Dahlman, Ola. author.
(2)
Duan, Zhenhua. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(28)
Systems engineering.
(22)
Electronics.
(17)
Computer science.
(16)
Computer hardware.
(8)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
189 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Micro-Electrode-Dot-Array Digital Microfluidic Biochips Design Automation, Optimization, and Test Techniques için kapak resmi
Micro-Electrode-Dot-Array Digital Microfluidic Biochips Design Automation, Optimization, and Test Techniques
Yazar 
Li, Zipeng. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. Ho, Tsung-Yi. author. Lee, Chen-Yi. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-02964-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
Yazar 
Rajaram, S. editor. Balamurugan, N.B. editor. Gracia Nirmala Rani, D. editor. Singh, Virendra. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-5950-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test için kapak resmi
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test
Yazar 
Chandrasekharan, Arun. author. Große, Daniel. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98965-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Yazar 
Sengupta, Anirban. editor. Dasgupta, Sudeb. editor. Singh, Virendra. editor. Sharma, Rohit. editor. Kumar Vishvakarma, Santosh. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
The Test and Launch Control Technology for Launch Vehicles için kapak resmi
The Test and Launch Control Technology for Launch Vehicles
Yazar 
Song, Zhengyu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-8712-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
A Study Guide to the ISTQB® Foundation Level 2018 Syllabus Test Techniques and Sample Mock Exams için kapak resmi
A Study Guide to the ISTQB® Foundation Level 2018 Syllabus Test Techniques and Sample Mock Exams
Yazar 
Roman, Adam. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98740-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Long-Life Design and Test Technology of Typical Aircraft Structures için kapak resmi
Long-Life Design and Test Technology of Typical Aircraft Structures
Yazar 
Liu, Jun. author. Yue, Zhufeng. author. Geng, Xiaoliang. author. Wen, Shifeng. author. Yan, Wuzhu. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-8399-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Place and Health as Complex Systems A Case Study and Empirical Test için kapak resmi
Place and Health as Complex Systems A Case Study and Empirical Test
Yazar 
Castellani, Brian. author. Rajaram, Rajeev. author. Buckwalter, J. Galen. author. Ball, Michael. author. Hafferty, Frederic. author.
Yer Numarası 
XX(519387.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09734-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Diagnostic Test Accuracy Studies in Dementia A Pragmatic Approach için kapak resmi
Diagnostic Test Accuracy Studies in Dementia A Pragmatic Approach
Yazar 
Larner, A.J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(519458.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-16697-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs için kapak resmi
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Yazar 
Noia, Brandon. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-02378-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Choosing the Correct Radiologic Test Case-Based Teaching Files için kapak resmi
Choosing the Correct Radiologic Test Case-Based Teaching Files
Yazar 
Lee, Susanna I. author. Thrall, James H. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333066.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15772-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç