Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Yayın Yılı
-
Konu
Integrated circuits--Testing.
(4)
Application-specific integrated circuits.
(3)
Digital integrated circuits -- Testing.
(3)
Electronic books.
(3)
Electronics.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
27 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI için kapak resmi
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI
Yazar 
Taylor, Gaynor, ed. Russell, Gordon, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS004E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques için kapak resmi
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques
Yazar 
Wang, Francis C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127345802
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation için kapak resmi
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation
Yazar 
Heyman, Joseph S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815511717
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: