Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(57)
Taylor and Francis.
(4)
Duong, Trung Q., editor.
(2)
Fakhfakh, Mourad. editor.
(2)
Ilyas, Mohammad, 1953-
(2)
Dil
English
(183)
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(50)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(34)
Computer science.
(13)
Operating systems (Computers).
(13)
Performance and Reliability.
(13)
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
183 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
5G technology : 3GPP evolution to 5G-advanced için kapak resmi
5G technology : 3GPP evolution to 5G-advanced
Yer Numarası 
TK5103.25 .A15 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119816058
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability analysis of modern power systems için kapak resmi
Reliability analysis of modern power systems
Yazar 
Saket, R. K., editor. Sanjeevikumar, Padmanaban, 1978-
Yer Numarası 
TA169 .S234 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394226771
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Mixed-flow pumps : modeling, simulation, and measurements için kapak resmi
Mixed-flow pumps : modeling, simulation, and measurements
Yazar 
Li, Wei (Professor of engineering), author. Ji, Leilei, author. Agarwal, R. K. (Ramesh K.), author. Shi, Weidong (College presidents), author. Zhou, Ling (Professor), author.
Yer Numarası 
TJ919 .L38 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119910381
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
The UFAW handbook on the care and management of laboratory and other research animals için kapak resmi
The UFAW handbook on the care and management of laboratory and other research animals
Yazar 
Golledge, Huw, editor. Richardson, Claire, editor.
Yer Numarası 
SF406 .U55 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119555278
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Artificial intelligence for risk mitigation in the financial industry için kapak resmi
Artificial intelligence for risk mitigation in the financial industry
Yer Numarası 
HG173 .A78 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394175574
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Integrating metaheuristics in computer vision for real-world optimization problems için kapak resmi
Integrating metaheuristics in computer vision for real-world optimization problems
Yer Numarası 
TA1637 .I58 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394230952
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Advanced Communication and Intelligent Systems Second International Conference, ICACIS 2023, Warsaw, Poland, June 16-17, 2023, Revised Selected Papers, Part II için kapak resmi
Advanced Communication and Intelligent Systems Second International Conference, ICACIS 2023, Warsaw, Poland, June 16-17, 2023, Revised Selected Papers, Part II
Yazar 
Shaw, Rabindra Nath. editor. Paprzycki, Marcin. editor. Ghosh, Ankush. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-45124-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Computer Safety, Reliability, and Security. SAFECOMP 2023 Workshops ASSURE, DECSoS, SASSUR, SENSEI, SRToITS, and WAISE, Toulouse, France, September 19, 2023, Proceedings için kapak resmi
Computer Safety, Reliability, and Security. SAFECOMP 2023 Workshops ASSURE, DECSoS, SASSUR, SENSEI, SRToITS, and WAISE, Toulouse, France, September 19, 2023, Proceedings
Yazar 
Guiochet, Jérémie. editor. Tonetta, Stefano. editor. Schoitsch, Erwin. editor. Roy, Matthieu. editor. Bitsch, Friedemann. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-40953-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
PET Radiopharmaceutical Business An Insider's View için kapak resmi
PET Radiopharmaceutical Business An Insider's View
Yazar 
Pecorale, Andrea. author. Inzerillo, Maria Carmela. author. Salvadori, Piero A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-51908-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging için kapak resmi
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
Yazar 
Gan, Chong Leong,. author. Huang, Chen-Yu,. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-26708-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Passive and Active Measurement 24th International Conference, PAM 2023, Virtual Event, March 21-23, 2023, Proceedings için kapak resmi
Passive and Active Measurement 24th International Conference, PAM 2023, Virtual Event, March 21-23, 2023, Proceedings
Yazar 
Brunstrom, Anna. editor. Flores, Marcel. editor. Fiore, Marco. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-28486-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç