Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(28)
Bin, Eyal. editor.
(2)
Grieskamp, Wolfgang. editor.
(2)
Merayo, Mercedes G. editor.
(2)
Nielsen, Brian. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computer science.
(28)
Software engineering.
(25)
Information Systems.
(9)
Artificial intelligence.
(7)
Computer Communication Networks.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
31 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Formal Approaches to Software Testing and Runtime Verification First Combined International Workshops, FATES 2006 and RV 2006, Seattle, WA, USA, August 15-16, 2006, Revised Selected Papers için kapak resmi
Formal Approaches to Software Testing and Runtime Verification First Combined International Workshops, FATES 2006 and RV 2006, Seattle, WA, USA, August 15-16, 2006, Revised Selected Papers
Yazar 
Havelund, Klaus. editor. Núñez, Manuel. editor. Roşu, Grigore. editor. Wolff, Burkhart. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11940197
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Hardware and Software, Verification and Testing First International Haifa Verification Conference, Haifa, Israel, November 13-16, 2005, Revised Selected Papers için kapak resmi
Hardware and Software, Verification and Testing First International Haifa Verification Conference, Haifa, Israel, November 13-16, 2005, Revised Selected Papers
Yazar 
Ur, Shmuel. editor. Bin, Eyal. editor. Wolfsthal, Yaron. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11678779
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Formal Approaches to Software Testing 5th International Workshop, FATES 2005, Edinburgh, UK, July 11, 2005, Revised Selected Papers için kapak resmi
Formal Approaches to Software Testing 5th International Workshop, FATES 2005, Edinburgh, UK, July 11, 2005, Revised Selected Papers
Yazar 
Grieskamp, Wolfgang. editor. Weise, Carsten. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11759744
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Formal Approaches to Software Testing 4th International Workshop, FATES 2004, Linz, Austria, September 21, 2004, Revised Selected Papers için kapak resmi
Formal Approaches to Software Testing 4th International Workshop, FATES 2004, Linz, Austria, September 21, 2004, Revised Selected Papers
Yazar 
Grabowski, Jens. editor. Nielsen, Brian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b106767
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Model-Based Testing of Reactive Systems Advanced Lectures için kapak resmi
Model-Based Testing of Reactive Systems Advanced Lectures
Yazar 
Broy, Manfred. editor. Jonsson, Bengt. editor. Katoen, Joost-Pieter. editor. Leucker, Martin. editor. Pretschner, Alexander. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137241
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI için kapak resmi
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI
Yazar 
Taylor, Gaynor, ed. Russell, Gordon, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS004E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Analogue-digital ASICs Circuit techniques, design tools and applications için kapak resmi
Analogue-digital ASICs Circuit techniques, design tools and applications
Yazar 
Soin, R. S., ed. Maloberti, F., ed. Franca, J., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS003E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: