Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(115)
LaMeres, Brock J. author.
(5)
Drechsler, Rolf. author.
(3)
Soudris, Dimitrios. editor.
(3)
Yiu, Joseph.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic circuits.
(95)
Electronics.
(44)
Computer architecture.
(43)
Processor Architectures.
(42)
Electronic Circuits and Systems.
(40)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
152 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Handbook of Signal Processing Systems için kapak resmi
Handbook of Signal Processing Systems
Yazar 
Bhattacharyya, Shuvra S. editor. Deprettere, Ed F. editor. Leupers, Rainer. editor. Takala, Jarmo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-91734-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Practical Security Properties on Commodity Computing Platforms The uber eXtensible Micro-Hypervisor Framework için kapak resmi
Practical Security Properties on Commodity Computing Platforms The uber eXtensible Micro-Hypervisor Framework
Yazar 
Vasudevan, Amit. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-25049-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Micro-Electrode-Dot-Array Digital Microfluidic Biochips Design Automation, Optimization, and Test Techniques için kapak resmi
Micro-Electrode-Dot-Array Digital Microfluidic Biochips Design Automation, Optimization, and Test Techniques
Yazar 
Li, Zipeng. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. Ho, Tsung-Yi. author. Lee, Chen-Yi. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-02964-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Learning from VLSI Design Experience için kapak resmi
Learning from VLSI Design Experience
Yazar 
Lee, Weng Fook. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-03238-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Introduction to Logic Circuits & Logic Design with Verilog için kapak resmi
Introduction to Logic Circuits & Logic Design with Verilog
Yazar 
LaMeres, Brock J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-13605-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Trends in Functional Programming 19th International Symposium, TFP 2018, Gothenburg, Sweden, June 11–13, 2018, Revised Selected Papers için kapak resmi
Trends in Functional Programming 19th International Symposium, TFP 2018, Gothenburg, Sweden, June 11–13, 2018, Revised Selected Papers
Yazar 
Pałka, Michał. editor. Myreen, Magnus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-18506-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design için kapak resmi
Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
Yazar 
Elfadel, Ibrahim (Abe) M. editor. Boning, Duane S. editor. Li, Xin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-04666-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Automated Methods in Cryptographic Fault Analysis için kapak resmi
Automated Methods in Cryptographic Fault Analysis
Yazar 
Breier, Jakub. editor. Hou, Xiaolu. editor. Bhasin, Shivam. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-11333-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Hardware Accelerators in Data Centers için kapak resmi
Hardware Accelerators in Data Centers
Yazar 
Kachris, Christoforos. editor. Falsafi, Babak. editor. Soudris, Dimitrios. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-92792-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults için kapak resmi
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Yazar 
Mrozek, Ireneusz. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Computer Engineering and Technology 22nd CCF Conference, NCCET 2018, Yinchuan, China, August 15–17, 2018, Revised Selected Papers için kapak resmi
Computer Engineering and Technology 22nd CCF Conference, NCCET 2018, Yinchuan, China, August 15–17, 2018, Revised Selected Papers
Yazar 
Xu, Weixia. editor. Xiao, Liquan. editor. Li, Jinwen. editor. Zhu, Zhenzhen. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-5919-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Safe, Autonomous and Intelligent Vehicles için kapak resmi
Safe, Autonomous and Intelligent Vehicles
Yazar 
Yu, Huafeng. editor. Li, Xin. editor. Murray, Richard M. editor. Ramesh, S. editor. Tomlin, Claire J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-97301-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç