Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Wiley InterScience (Online service)
(10)
John Wiley & Sons.
(5)
Abraham, Bovas, 1942-
(2)
Chatterjee, Samprit, 1938-
(2)
Cook, R. Dennis.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Time-series analysis.
(5)
Regresyon analizi.
(4)
Electronic books.
(3)
Least squares.
(3)
Linear models (Statistics)
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
41 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Smoothing and regression approaches, computation, and application için kapak resmi
Smoothing and regression approaches, computation, and application
Yazar 
Schimek, Michael G. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Applied logistic regression için kapak resmi
Applied logistic regression
Yazar 
Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471722146
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/109855848
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley042/00036843.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Applied regression including computing and graphics için kapak resmi
Applied regression including computing and graphics
Yazar 
Cook, R. Dennis. Weisberg, Sanford, 1947- ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 278.2 C6617 1999
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Applied regression including computing and graphics için kapak resmi
Applied regression including computing and graphics
Yazar 
Cook, R. Dennis. Weisberg, Sanford, 1947- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469129
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316948
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley044/99017200.html
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/40683869.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Applied regression analysis için kapak resmi
Applied regression analysis
Yazar 
Draper, Norman Richard. Smith, Harry, 1923- ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 278.2 D7 1998
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Alternative methods of regression için kapak resmi
Alternative methods of regression
Yazar 
Birkes, David. Dodge, Yadolah, 1944- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=818791
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley041/92031165.html
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10504196
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Forecasting with dynamic regression models için kapak resmi
Forecasting with dynamic regression models
Yazar 
Pankratz, Alan, 1944- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Nonlinear regression analysis and its applications için kapak resmi
Nonlinear regression analysis and its applications
Yazar 
Bates, Douglas M. Watts, Donald G.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316757
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Sensitivity analysis in linear regression için kapak resmi
Sensitivity analysis in linear regression
Yazar 
Chatterjee, Samprit, 1938- Hadi, Ali S. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=468906
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316764
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/16923977.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Measurement error models için kapak resmi
Measurement error models
Yazar 
Fuller, Wayne A. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469407
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316665
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Nonlinear statistical models için kapak resmi
Nonlinear statistical models
Yazar 
Gallant, A. Ronald, 1942- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469411
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316719
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/14069052.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Robust regression and outlier detection için kapak resmi
Robust regression and outlier detection
Yazar 
Rousseeuw, Peter J. Leroy, Annick M. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471725382
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: