Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(45)
Bhushan, Bharat. editor.
(5)
Fuchs, Harald. editor.
(3)
Ayache, Jeanne. author.
(2)
Beaunier, Luc. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
45 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science
Yazar 
Williams, David B. author. Carter, C. Barry. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Synthetic Polymeric Membranes Characterization by Atomic Force Microscopy için kapak resmi
Synthetic Polymeric Membranes Characterization by Atomic Force Microscopy
Yazar 
Khulbe, K. C. author. Feng, C. Y. author. Matsuura, Takeshi. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73994-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. Tomitori, Masahiko. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Yazar 
Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Yazar 
Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM için kapak resmi
Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Yazar 
Egerton, Ray F. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136495
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002
Yazar 
Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
The Science of Solar System Ices için kapak resmi
The Science of Solar System Ices
Yazar 
Gudipati, Murthy S. editor. Castillo-Rogez, Julie. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331315.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3076-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Nanomaterials Imaging Techniques, Surface Studies, and Applications Selected Proceedings of the FP7 International Summer School Nanotechnology: From Fundamental Research to Innovations, August 26-September 2, 2012, Bukovel, Ukraine için kapak resmi
Nanomaterials Imaging Techniques, Surface Studies, and Applications Selected Proceedings of the FP7 International Summer School Nanotechnology: From Fundamental Research to Innovations, August 26-September 2, 2012, Bukovel, Ukraine
Yazar 
Fesenko, Olena. editor. Yatsenko, Leonid. editor. Brodin, Mikhaylo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332321.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7675-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Local Electrode Atom Probe Tomography A User's Guide için kapak resmi
Local Electrode Atom Probe Tomography A User's Guide
Yazar 
Larson, David J. author. Prosa, Ty J. author. Ulfig, Robert M. author. Geiser, Brian P. author. Kelly, Thomas F. author.
Yer Numarası 
ONLINE(332444.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8721-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: