Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(86)
Altenbach, Holm. editor.
(5)
Mathew, Aji. P. editor.
(3)
Thomas, Sabu. editor.
(3)
Visakh, P. M. editor.
(3)
Dil
English
(100)
Yayın Yılı
-
Konu
Characterization and Evaluation of Materials.
(75)
Surfaces (Physics).
(75)
Engineering.
(32)
Materials.
(31)
Materials Science.
(23)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
100 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Ceramic Materials Science and Engineering için kapak resmi
Ceramic Materials Science and Engineering
Yazar 
Carter, C. Barry. author. Norton, M. Grant. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331349.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3523-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advanced Analysis of Nontraditional Machining için kapak resmi
Advanced Analysis of Nontraditional Machining
Yazar 
Hocheng, Hong. editor. Tsai, Hung-Yin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331418.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4054-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Structure Determination by X-ray Crystallography Analysis by X-rays and Neutrons için kapak resmi
Structure Determination by X-ray Crystallography Analysis by X-rays and Neutrons
Yazar 
Ladd, Mark. author. Palmer, Rex. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331396.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3954-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Applied Chemistry A Textbook for Engineers and Technologists için kapak resmi
Applied Chemistry A Textbook for Engineers and Technologists
Yazar 
Roussak, O.V. author. Gesser, H. D. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331462.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4262-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices için kapak resmi
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices
Yazar 
Ueda, Osamu. editor. Pearton, Stephen J. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331478.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4337-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Composite Materials and Joining Technologies for Composites, Volume 7 Proceedings of the 2012 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics için kapak resmi
Composite Materials and Joining Technologies for Composites, Volume 7 Proceedings of the 2012 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics
Yazar 
Patterson, Eann. editor. Backman, David. editor. Cloud, Gary. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331533.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4553-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Natural Convective Heat Transfer from Narrow Plates için kapak resmi
Natural Convective Heat Transfer from Narrow Plates
Yazar 
Oosthuizen, Patrick H. author. Kalendar, Abdulrahim Y. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331694.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-5158-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Handbook of Coherent-Domain Optical Methods Biomedical Diagnostics, Environmental Monitoring, and Materials Science için kapak resmi
Handbook of Coherent-Domain Optical Methods Biomedical Diagnostics, Environmental Monitoring, and Materials Science
Yazar 
Tuchin, Valery V. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331699.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-5176-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Handbook of Gas Sensor Materials Properties, Advantages and Shortcomings for Applications Volume 1: Conventional Approaches için kapak resmi
Handbook of Gas Sensor Materials Properties, Advantages and Shortcomings for Applications Volume 1: Conventional Approaches
Yazar 
Korotcenkov, Ghenadii. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332224.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7165-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach için kapak resmi
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach
Yazar 
Rabinovich, Semyon G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332097.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6717-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Helium Ion Microscopy Principles and Applications için kapak resmi
Helium Ion Microscopy Principles and Applications
Yazar 
Joy, David C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332438.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8660-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Local Electrode Atom Probe Tomography A User's Guide için kapak resmi
Local Electrode Atom Probe Tomography A User's Guide
Yazar 
Larson, David J. author. Prosa, Ty J. author. Ulfig, Robert M. author. Geiser, Brian P. author. Kelly, Thomas F. author.
Yer Numarası 
ONLINE(332444.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8721-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç