Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(62)
Yadav, Sanjay. editor.
(6)
Garg, Naveen. editor.
(4)
Kumar, Harish. editor.
(3)
Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Metrology.
(24)
Electronic books.
(18)
Measurement.
(12)
Nanotechnology.
(12)
Optical measurements.
(10)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
149 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
25. 
Metrology and Measurement Uncertainty Concepts and Applications için kapak resmi
Metrology and Measurement Uncertainty Concepts and Applications
Yazar 
Novellino do Rosario, Pedro Paulo. author. Mendes, Alexandre. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-82303-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Coordinate Metrology Accuracy of Systems and Measurements için kapak resmi
Coordinate Metrology Accuracy of Systems and Measurements
Yazar 
Sładek, Jerzy A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-48465-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions için kapak resmi
Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions
Yazar 
Silvani, Xavier. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332373.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7962-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications için kapak resmi
Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications
Yazar 
Raza, Hassan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22984-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Advances in speckle metrology and related techniques için kapak resmi
Advances in speckle metrology and related techniques
Yazar 
Kaufmann, Guillermo H.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Wiley InterScience - Full Text Online http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9783527633852
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10446636
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Digital holography for MEMS and microsystem metrology için kapak resmi
Digital holography for MEMS and microsystem metrology
Yazar 
Asundi, Anand.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119997290
http://lib.myilibrary.com?id=317798
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=697681
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Distributed Large-Scale Dimensional Metrology New Insights için kapak resmi
Distributed Large-Scale Dimensional Metrology New Insights
Yazar 
Franceschini, Fiorenzo. author. Galetto, Maurizio. author. Maisano, Domenico. author. Mastrogiacomo, Luca. author. Pralio, Barbara. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-543-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Handbook of optical metrology : principles and applications için kapak resmi
Handbook of optical metrology : principles and applications
Yazar 
Yoshizawa, Toru, 1939-
Yer Numarası 
QC367 .H36 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Metrology in industry the key for quality için kapak resmi
Metrology in industry the key for quality
Yazar 
Collège français de métrologie. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0806/2006003530-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470612125
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Transverse disciplines in metrology proceedings of the 13th International Metrology Congress, 2007, Lille, France için kapak resmi
Transverse disciplines in metrology proceedings of the 13th International Metrology Congress, 2007, Lille, France
Yazar 
International Metrology Conference (13th : 2007 : French College of Metrology) Collège français de métrologie. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=477706
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470611371
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10360928
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=477706
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/230183422.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Advances in Biophotonics, Nanofabrication, Optical Metrology and Nonlinear and Ultrafast Photonics Proceedings of PHOTONICS 2023, Volume 3 için kapak resmi
Advances in Biophotonics, Nanofabrication, Optical Metrology and Nonlinear and Ultrafast Photonics Proceedings of PHOTONICS 2023, Volume 3
Yazar 
Prakash, Jaya. editor. Basu, Jaydeep Kumar. editor. Mukherjee, Sebabrata. editor. Chandrashekar, C. M. editor. (orcid)0000-0003-4820-2317 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-97-7917-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2024 için kapak resmi
Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2024
Yazar 
Yadav, Sanjay. editor. Garg, Naveen. editor. Kumar, Mukesh. editor. Aggarwal, Shankar G. editor. Jaiswal, Shiv Kumar. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-96-6418-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç