Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Wiley InterScience (Online service)
(9)
Bauer, Eric.
(4)
Adams, Randee.
(2)
Schneidewind, Norman.
(2)
Alouini, Mohamed-Slim.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Reliability (Engineering)
(15)
Computer software -- Reliability.
(5)
Electronic apparatus and appliances -- Reliability.
(3)
Software engineering.
(3)
COMPUTERS -- Software Development & Engineering -- General.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
44 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
ESD failure mechanisms and models için kapak resmi
ESD failure mechanisms and models
Yazar 
Voldman, Steven H. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470747254
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10317806
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Dependability benchmarking for computer systems için kapak resmi
Dependability benchmarking for computer systems
Yazar 
Kanoun, Karama. Spainhower, Lisa.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129686
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Maintaining mission critical systems in a 24/7 environment için kapak resmi
Maintaining mission critical systems in a 24/7 environment
Yazar 
Curtis, Peter M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5236749
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Risk assessment of power systems models, methods, and applications için kapak resmi
Risk assessment of power systems models, methods, and applications
Yazar 
Li, Wenyuan.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5238312
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Trustworthy systems through quantitative software engineering için kapak resmi
Trustworthy systems through quantitative software engineering
Yazar 
Bernstein, Lawrence, 1940- Yuhas, C. M. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5988898
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Digital communication over fading channels için kapak resmi
Digital communication over fading channels
Yazar 
Simon, Marvin Kenneth, 1939- Alouini, Mohamed-Slim.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5238261
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Accelerated stress testing handbook guide for achieving quality products için kapak resmi
Accelerated stress testing handbook guide for achieving quality products
Yazar 
Chan, H. Anthony, 1952- Englert, Paul J, 1960-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5270476
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
The design analysis handbook a practical guide to design validation için kapak resmi
The design analysis handbook a practical guide to design validation
Yazar 
Walker, N. Edward.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750690881
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets