Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(27)
Wiley InterScience (Online service)
(6)
Lapuschkin, Sebastian. editor. (orcid)0000-0002-0762-7258
(4)
Longo, Luca. editor.
(4)
Seifert, Christin. editor. (orcid)0000-0002-6776-3868
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering -- Statistical methods.
(35)
Electronic books.
(20)
Reliability (Engineering) -- Statistical methods.
(19)
Probabilities.
(12)
Artificial intelligence.
(10)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
135 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Reliability modelling with information measures için kapak resmi
Reliability modelling with information measures
Yazar 
Nair, N. Unnikrishnan, 1945- author. Sunoj, S. M., 1972- author. Rajesh, G., 1971- author.
Yer Numarası 
TA169 .N3526 2022 EB
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003309635
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Statistical modeling of reliability structures and industrial processes için kapak resmi
Statistical modeling of reliability structures and industrial processes
Yazar 
Triantafyllou, Ioannis S., editor. Ram, Mangey, editor.
Yer Numarası 
TA169
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003203124
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Applied engineering statistics için kapak resmi
Applied engineering statistics
Yazar 
Rhinehart, R. Russell, 1946- author. Bethea, Robert M., author.
Yer Numarası 
TA340
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003222330
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Geostatistics for the mining industry : applications to porphyry copper deposits için kapak resmi
Geostatistics for the mining industry : applications to porphyry copper deposits
Yazar 
Emery, Xavier, author. Séguret, Serge Antoine, author.
Yer Numarası 
ONLİNE
Elektronik Erişim 
https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=2689733
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Geostatistics for the mining industry : applications to porphyry copper deposits için kapak resmi
Geostatistics for the mining industry : applications to porphyry copper deposits
Yazar 
Emery, Xavier, author. Séguret, Serge Antoine, author.
Yer Numarası 
TN444 .C5 E4413 2021
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003050469
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Introduction to statistical process control için kapak resmi
Introduction to statistical process control
Yazar 
Aslam, Muhammad. Saghir, Aamir. Ahmad, Liaquat.
Yer Numarası 
TS156.8
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119528425
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Statistical learning for big dependent data için kapak resmi
Statistical learning for big dependent data
Yazar 
Peña, Daniel, 1948- author. Tsay, Ruey S., 1951- author.
Yer Numarası 
QA76.9 .B45 P46 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119417408
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Structural reliability : approaches from perspectives of statistical moments için kapak resmi
Structural reliability : approaches from perspectives of statistical moments
Yazar 
Zhao, Yan-Gang, author. Lu, Zhao-Hui, author.
Yer Numarası 
TA650 .Z53 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119620754
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Modern industrial statistics : with applications in R, MINITAB and JMP için kapak resmi
Modern industrial statistics : with applications in R, MINITAB and JMP
Yazar 
Kenett, Ron, author. Zacks, Shelemyahu, 1932- author. Amberti, Daniele, author.
Yer Numarası 
TS156 .K46 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119714941
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard. Pougnet, Philippe. El Hami, Abdelkhalak.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119808244
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Industrial data analytics for diagnosis and prognosis : a random effects modelling approach için kapak resmi
Industrial data analytics for diagnosis and prognosis : a random effects modelling approach
Yazar 
Zhou, Shiyu, 1970- author. Chen, Yong (Professor of industrial and systems engineering), author.
Yer Numarası 
T57.35 .Z56 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119666271
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Achieving Product Reliability : A Key to Business Success. için kapak resmi
Achieving Product Reliability : A Key to Business Success.
Yazar 
Doganaksoy, Necip, 1960- author. Meeker, William Q., author. Hahn, Gerald J., author.
Yer Numarası 
TS156
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003181361
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets