Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(74)
Wiley InterScience (Online service)
(7)
Baayen, R. Harald, contributor.
(3)
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
(3)
Good, Phillip I.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
LANGUAGE ARTS & DISCIPLINES / Linguistics / General.
(27)
Medical errors -- Prevention.
(9)
Medical Errors -- prevention & control.
(8)
Engineering.
(7)
Patients -- Safety measures.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
215 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Lexical Errors and Accuracy in Foreign Language Writing için kapak resmi
Lexical Errors and Accuracy in Foreign Language Writing
Yazar 
Agustín Llach, María del Pilar, author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.21832/9781847694188
https://www.degruyter.com/isbn/9781847694188
Cover https://www.degruyter.com/document/cover/isbn/9781847694188/original
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Speed up your Spanish strategies to avoid common errors için kapak resmi
Speed up your Spanish strategies to avoid common errors
Yazar 
Muñoz-Basols, Javier. David, Marianne. Núñez Piñeiro, Olga.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations için kapak resmi
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations
Yazar 
Garg, Rajesh. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis, Correction and Repair için kapak resmi
Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis, Correction and Repair
Yazar 
Chang, Kai-hui. author. Markov, Igor L. author. Bertacco, Valeria. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-9365-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Advanced Potentiometry Potentiometric Titrations and Their Systematic Errors için kapak resmi
Advanced Potentiometry Potentiometric Titrations and Their Systematic Errors
Yazar 
Néher-Neumann, Erzsébet. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-9525-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Common errors in statistics (and how to avoid them) için kapak resmi
Common errors in statistics (and how to avoid them)
Yazar 
Good, Phillip I. Hardin, James W. (James William)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=468930
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470473924
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=468930
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Verilog and SystemVerilog Gotchas 101 Common Coding Errors and How to Avoid Them için kapak resmi
Verilog and SystemVerilog Gotchas 101 Common Coding Errors and How to Avoid Them
Yazar 
Sutherland, Stuart. author. Mills, Don. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71715-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Know the risk learning from errors and accidents : safety and risk in today's technology için kapak resmi
Know the risk learning from errors and accidents : safety and risk in today's technology
Yazar 
Duffey, R. B. (Romney B.) Saull, John Walton, 1935-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750675963
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Common errors in statistics (and how to avoid them) için kapak resmi
Common errors in statistics (and how to avoid them)
Yazar 
Good, Phillip I. Hardin, James W. (James William) John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Book review (E-STREAMS) http://www.e-streams.com/es0709/es0709%5F3579.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471463760
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley046/2003043279.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10577644
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Data Analytics A Theoretical and Practical View from the EDISON Project için kapak resmi
Data Analytics A Theoretical and Practical View from the EDISON Project
Yazar 
Cuadrado-Gallego, Juan J. author. Demchenko, Yuri. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-39129-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Algorithms and Data Structures 18th International Symposium, WADS 2023, Montreal, QC, Canada, July 31 - August 2, 2023, Proceedings için kapak resmi
Algorithms and Data Structures 18th International Symposium, WADS 2023, Montreal, QC, Canada, July 31 - August 2, 2023, Proceedings
Yazar 
Morin, Pat. editor. Suri, Subhash. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-38906-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Computer Analysis of Images and Patterns 20th International Conference, CAIP 2023, Limassol, Cyprus, September 25-28, 2023, Proceedings, Part II için kapak resmi
Computer Analysis of Images and Patterns 20th International Conference, CAIP 2023, Limassol, Cyprus, September 25-28, 2023, Proceedings, Part II
Yazar 
Tsapatsoulis, Nicolas. editor. Lanitis, Andreas. editor. Pattichis, Marios. editor. Pattichis, Constantinos. editor. Kyrkou, Christos. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-44240-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç