Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(51)
Bland, J. Anthony C. editor.
(2)
Heinrich, Bretislav. editor.
(2)
Narlikar, Anant V. editor.
(2)
Warlimont, Hans. editor.
(2)
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
54 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Ultrathin Magnetic Structures III Fundamentals of Nanomagnetism için kapak resmi
Ultrathin Magnetic Structures III Fundamentals of Nanomagnetism
Yazar 
Bland, J. Anthony C. editor. Heinrich, Bretislav. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138703
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Ultrathin Magnetic Structures IV Applications of Nanomagnetism için kapak resmi
Ultrathin Magnetic Structures IV Applications of Nanomagnetism
Yazar 
Heinrich, Bretislav. editor. Bland, J. Anthony C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138704
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Konzepte siliziumbasierter MOS-Bauelemente için kapak resmi
Konzepte siliziumbasierter MOS-Bauelemente
Yazar 
Schulze, Jörg. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27547-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Photonic Crystals Towards Nanoscale Photonic Devices için kapak resmi
Photonic Crystals Towards Nanoscale Photonic Devices
Yazar 
Lourtioz, Jean-Michel. author. Benisty, Henri. author. Berger, Vincent. author. Gérard, Jean-Michel. author. Maystre, Daniel. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27701-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Gettering Defects in Semiconductors için kapak resmi
Gettering Defects in Semiconductors
Yazar 
Perevoschikov, Victor A. author. Skoupov, Vladimir D. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-29499-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Springer Handbook of Condensed Matter and Materials Data için kapak resmi
Springer Handbook of Condensed Matter and Materials Data
Yazar 
Martienssen, Werner. editor. Warlimont, Hans. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-30437-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics için kapak resmi
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics
Yazar 
Ogale, Satischandra B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136780
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment Kiev, Ukraine 26–30 April 2004 için kapak resmi
Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment Kiev, Ukraine 26–30 April 2004
Yazar 
Flandre, Denis. editor. Nazarov, Alexei N. editor. Hemment, Peter L.F. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3013-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002
Yazar 
Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Materials Fundamentals of Gate Dielectrics için kapak resmi
Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
Yazar 
Demkov, Alexander A. editor. Navrotsky, Alexandra. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3078-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Quantum Dots: Fundamentals, Applications, and Frontiers Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Quantum Dots: Fundamentals, Applications and Frontiers Crete, Greece, 20–24 July 2003 için kapak resmi
Quantum Dots: Fundamentals, Applications, and Frontiers Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Quantum Dots: Fundamentals, Applications and Frontiers Crete, Greece, 20–24 July 2003
Yazar 
Joyce, Bruce A. editor. Kelires, Pantelis C. editor. Naumovets, Anton G. editor. Vvedensky, Dimitri D. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3315-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Fundamentals of Semiconductors Physics and Materials Properties için kapak resmi
Fundamentals of Semiconductors Physics and Materials Properties
Yazar 
Yu, Peter Y. Cardona, Manuel. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137661
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç