Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Chakrabarty, Krishnendu. author.
(3)
Drechsler, Rolf. author.
(3)
Calinescu, Radu. editor.
(2)
Dahlman, Ola. author.
(2)
Duan, Zhenhua. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(28)
Systems engineering.
(22)
Electronics.
(17)
Computer science.
(16)
Computer hardware.
(8)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
189 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Choosing the Correct Radiologic Test Case-Based Teaching Files için kapak resmi
Choosing the Correct Radiologic Test Case-Based Teaching Files
Yazar 
Lee, Susanna I. author. Thrall, James H. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333066.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15772-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Three Approaches to Data Analysis Test Theory, Rough Sets and Logical Analysis of Data için kapak resmi
Three Approaches to Data Analysis Test Theory, Rough Sets and Logical Analysis of Data
Yazar 
Chikalov, Igor. author. Lozin, Vadim. author. Lozina, Irina. author. Moshkov, Mikhail. author. Nguyen, Hung Son. author.
Yer Numarası 
ONLINE(333195.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28667-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Design Characteristics of Virtual Learning Environments A Theoretical Integration and Empirical Test of Technology Acceptance and IS Success Research için kapak resmi
Design Characteristics of Virtual Learning Environments A Theoretical Integration and Empirical Test of Technology Acceptance and IS Success Research
Yazar 
Müller, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335240.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-658-00392-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Non-parametric Tuning of PID Controllers A Modified Relay-Feedback-Test Approach için kapak resmi
Non-parametric Tuning of PID Controllers A Modified Relay-Feedback-Test Approach
Yazar 
Boiko, Igor. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(330986.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-4465-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques için kapak resmi
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
Yazar 
Chen, Mingsong. author. Qin, Xiaoke. author. Koo, Heon-Mo. author. Mishra, Prabhat. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers
Yazar 
Gaur, Manoj Singh. editor. Zwolinski, Mark. editor. Laxmi, Vijay. editor. Boolchandani, Dharmendra. editor. Sing, Virendra. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(335156.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-42024-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs için kapak resmi
Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Yazar 
Bou-Sleiman, Sleiman. author. Ismail, Mohammed. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9548-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings için kapak resmi
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings
Yazar 
Rahaman, Hafizur. editor. Chattopadhyay, Sanatan. editor. Chattopadhyay, Santanu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Is There a Court for Gaza? A Test Bench for International Justice için kapak resmi
Is There a Court for Gaza? A Test Bench for International Justice
Yazar 
Meloni, Chantal. editor. Tognoni, Gianni. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-6704-820-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Industrial Process Identification and Control Design Step-test and Relay-experiment-based Methods için kapak resmi
Industrial Process Identification and Control Design Step-test and Relay-experiment-based Methods
Yazar 
Liu, Tao. author. Gao, Furong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-977-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability için kapak resmi
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Yazar 
Eggersglüß, Stephan. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç