Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(6)
Bourland, J. Daniel.
(2)
Bouton, Gary David, 1953-
(2)
Lynch, Richard (Richard A.)
(2)
Abawajy, Jemal. editor.
(1)
Dil
Konu
Image processing -- Digital techniques.
(21)
Computer graphics.
(7)
Computer vision.
(7)
Photography -- Digital techniques.
(6)
Image processing.
(5)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
42 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Optical imaging techniques in cell biology için kapak resmi
Optical imaging techniques in cell biology
Yazar 
Cox, Guy, 1945, author. Cox, Guy, 1945- Optical imaging techniques in cell biology.
Yer Numarası 
QH585 .C69 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Embedded systems and wireless technology için kapak resmi
Embedded systems and wireless technology
Yazar 
Aquino Santos, Raul, 1965- Block, Arthur Edwards, 1957-
Yer Numarası 
TK5105.77 .E43 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Visual cryptography and secret image sharing için kapak resmi
Visual cryptography and secret image sharing
Yazar 
Cimato, Stelvio. Yang, Ching-Nung.
Yer Numarası 
TA1637 .V544 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Handbook on soft computing for video surveillance için kapak resmi
Handbook on soft computing for video surveillance
Yazar 
Pal, Sankar K. Petrosino, Alfredo. Maddalena, Lucia.
Yer Numarası 
QA76.9 .S63 H36 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Fotoğrafçının zihni : daha başarılı dijital fotoğraflar için yaratıcı düşünme için kapak resmi
Fotoğrafçının zihni : daha başarılı dijital fotoğraflar için yaratıcı düşünme
Yazar 
Freeman, Michael, 1945- Çıngay, Seda.
Yer Numarası 
TR183 F752 2012
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Defects-recognition imaging and physics in semiconductors XIV selected peer reviewed papers from the 14th international conference on defects-recognition, imaging and physics in semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan için kapak resmi
Defects-recognition imaging and physics in semiconductors XIV selected peer reviewed papers from the 14th international conference on defects-recognition, imaging and physics in semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan
Yazar 
International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (2011 : Miyazaki, Japan) Yamada-Kaneta, Hiroshi. Sakai, Akira.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=517215
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: