Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(8)
Wiley InterScience (Online service)
(5)
National Council on Measurement in Education.
(2)
Quevauviller, Ph.
(2)
Wechsler, David, 1896-
(2)
Dil
Konu
Economics.
(4)
Blood flow -- Measurement.
(2)
Electronic books.
(2)
Engineering.
(2)
ZEKA.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
45 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Physical geodesy için kapak resmi
Physical geodesy
Yazar 
Hofmann-Wellenhof, Bernhard. Moritz, Helmut, 1933-, ort. yaz.
Yer Numarası 
QB281 .H64 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Dictionary of distances için kapak resmi
Dictionary of distances
Yazar 
Deza, Elena. Deza, M., 1934-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444520876
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Norms for fitness, performance, and health için kapak resmi
Norms for fitness, performance, and health
Yazar 
Hoffman, Jay, 1961-
Yer Numarası 
QP301 .H634 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Experimental techniques for low-temperature measurements cryostat design, material properties, and superconductor critical-current testing için kapak resmi
Experimental techniques for low-temperature measurements cryostat design, material properties, and superconductor critical-current testing
Yazar 
Ekin, J. W.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Oxford scholarship online http://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780198570547.001.0001
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Diagnostic ultrasound imaging and blood flow measurements için kapak resmi
Diagnostic ultrasound imaging and blood flow measurements
Yazar 
Shung, K. Kirk.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
X-ray metrology in semiconductor manufacturing için kapak resmi
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Yazar 
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- Tanner, B. K. (Brian Keith)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Wastewater quality monitoring and treatment için kapak resmi
Wastewater quality monitoring and treatment
Yazar 
Quevauviller, Ph. Thomas, Olivier. Beken, André van der.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=18008
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470058725
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Perceptual audio evaluation theory, method and application için kapak resmi
Perceptual audio evaluation theory, method and application
Yazar 
Bech, Søren. Zacharov, Nick. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view book
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470869253
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/homepage/?isbn=9780470869253
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/113489185
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Kaplan's clinical hypertension için kapak resmi
Kaplan's clinical hypertension
Yazar 
Kaplan, Norman M. Flynn, Joseph T.
Yer Numarası 
WG 340 K17 2006
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~3
Rafta:
Kopya: