Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(142)
Wang, Zhiming M. editor.
(8)
Fan, X.J. editor.
(2)
Korkin, Anatoli. editor.
(2)
Li, Handong. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Optical materials.
(142)
Electronics.
(60)
Systems engineering.
(35)
Nanotechnology.
(32)
Optical and Electronic Materials.
(26)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
143 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Molecular Modeling and Multiscaling Issues for Electronic Material Applications için kapak resmi
Molecular Modeling and Multiscaling Issues for Electronic Material Applications
Yazar 
Iwamoto, Nancy. editor. Yuen, Matthew M.F. editor. Fan, Haibo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1728-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics Thermal and Electrical Stability için kapak resmi
Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics Thermal and Electrical Stability
Yazar 
He, Ming. author. Lu, Toh-Ming. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1812-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Handbook of Visual Display Technology için kapak resmi
Handbook of Visual Display Technology
Yazar 
Chen, Janglin. editor. Cranton, Wayne. editor. Fihn, Mark. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-79567-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Electroactivity in Polymeric Materials için kapak resmi
Electroactivity in Polymeric Materials
Yazar 
Rasmussen, Lenore. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0878-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Nanostructured Materials and Their Applications için kapak resmi
Nanostructured Materials and Their Applications
Yazar 
Logothetidis, Stergios. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22227-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
GaN and ZnO-based Materials and Devices için kapak resmi
GaN and ZnO-based Materials and Devices
Yazar 
Pearton, Stephen. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-23521-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Chalcogenides Metastability and Phase Change Phenomena için kapak resmi
Chalcogenides Metastability and Phase Change Phenomena
Yazar 
Kolobov, Alexander V. author. Tominaga, Junji. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28705-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Piezotronics and Piezo-Phototronics için kapak resmi
Piezotronics and Piezo-Phototronics
Yazar 
Wang, Zhong Lin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34237-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems için kapak resmi
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems
Yazar 
Liu, Johan. author. Salmela, Olli. author. Sarkka, Jussi. author. Morris, James E. author. Tegehall, Per-Erik. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects için kapak resmi
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects
Yazar 
Grossmann, Günter. editor. Zardini, Christian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-236-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections için kapak resmi
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Yazar 
Tan, Cher Ming. author. Li, Wei. author. Gan, Zhenghao. author. Hou, Yuejin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Handbook of Transparent Conductors için kapak resmi
Handbook of Transparent Conductors
Yazar 
Ginley, David S. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-1638-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç