Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(103)
Hornbogen, Erhard. author.
(6)
Eggeler, Gunther. author.
(4)
Werner, Ewald. author.
(4)
Jost, Norbert. author.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Physics.
(41)
Chemistry.
(34)
Materials.
(22)
Chemistry, Physical organic.
(21)
Optical materials.
(19)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
103 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Liquid Crystalline Semiconductors Materials, properties and applications için kapak resmi
Liquid Crystalline Semiconductors Materials, properties and applications
Yazar 
Bushby, Richard J. editor. Kelly, Stephen M. editor. O'Neill, Mary. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335654.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2873-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science A User-Oriented Guide için kapak resmi
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science A User-Oriented Guide
Yazar 
Hofmann, Siegfried. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333149.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27381-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
HPHT-Treated Diamonds Diamonds Forever için kapak resmi
HPHT-Treated Diamonds Diamonds Forever
Yazar 
Dobrinets, Inga A. author. Vins, Victor. G. author. Zaitsev, Alexander M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334441.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-37490-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Grain Boundaries From Theory to Engineering için kapak resmi
Grain Boundaries From Theory to Engineering
Yazar 
Priester, Louisette. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335860.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-4969-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces için kapak resmi
Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Yazar 
Sadewasser, Sascha. editor. Glatzel, Thilo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22566-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Mass Metrology için kapak resmi
Mass Metrology
Yazar 
Gupta, S. V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-23412-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
GaN and ZnO-based Materials and Devices için kapak resmi
GaN and ZnO-based Materials and Devices
Yazar 
Pearton, Stephen. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-23521-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Homogeneous Catalysis with Metal Complexes Fundamentals and Applications için kapak resmi
Homogeneous Catalysis with Metal Complexes Fundamentals and Applications
Yazar 
Duca, Gheorghe. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-24629-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Atom Probe Microscopy için kapak resmi
Atom Probe Microscopy
Yazar 
Gault, Baptiste. author. Moody, Michael P. author. Cairney, Julie M. author. Ringer, Simon P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3436-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Coherent Light Microscopy Imaging and Quantitative Phase Analysis için kapak resmi
Coherent Light Microscopy Imaging and Quantitative Phase Analysis
Yazar 
Ferraro, Pietro. editor. Wax, Adam. editor. Zalevsky, Zeev. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15813-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Nanophenomena at Surfaces Fundamentals of Exotic Condensed Matter Properties için kapak resmi
Nanophenomena at Surfaces Fundamentals of Exotic Condensed Matter Properties
Yazar 
Michailov, Michail. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-16510-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Atomistic Properties of Solids için kapak resmi
Atomistic Properties of Solids
Yazar 
Sirdeshmukh, Dinker B. author. Sirdeshmukh, Lalitha. author. Subhadra, K.G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-19971-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç