Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(62)
Yadav, Sanjay. editor.
(6)
Garg, Naveen. editor.
(4)
Kumar, Harish. editor.
(3)
Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Metrology.
(24)
Electronic books.
(18)
Measurement.
(12)
Nanotechnology.
(12)
Optical measurements.
(10)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
149 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Recent Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2022 için kapak resmi
Recent Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2022
Yazar 
Yadav, Sanjay. editor. (orcid)0000-0002-1450-3202 Garg, Naveen. editor. Aggarwal, Shankar G. editor. (orcid)0000-0002-5809-157X Jaiswal, Shiv Kumar. editor. Kumar, Harish. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-4594-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
High-productivity drilling tools. Materials, metrology, and failure analysis için kapak resmi
High-productivity drilling tools. Materials, metrology, and failure analysis
Yazar 
Astakhov, Viktor P., author.
Yer Numarası 
TJ1260
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003263319
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Recent Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2021 için kapak resmi
Recent Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2021
Yazar 
Yadav, Sanjay. editor. Chaudhary, K.P. editor. Gahlot, Ajay. editor. Arya, Yogendra. editor. Dahiya, Aman. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-2468-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
The economics and science of measurement : a study of metrology için kapak resmi
The economics and science of measurement : a study of metrology
Yazar 
Link, Albert N., author.
Yer Numarası 
QC91
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003186953
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Metrology and instrumentation : practical applications for engineering and manufacturing için kapak resmi
Metrology and instrumentation : practical applications for engineering and manufacturing
Yazar 
Mekid, Samir, author.
Yer Numarası 
QC88 .M38 2022
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119721789
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Handbook of Laser Technology and Applications Laser Applications: Medical, Metrology and Communication. (Volume Four) için kapak resmi
Handbook of Laser Technology and Applications Laser Applications: Medical, Metrology and Communication. (Volume Four)
Yazar 
Guo, Chunlei, editor. Singh, Subhash Chandra (Writer on technology), editor.
Yer Numarası 
TK7871.3
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003130123
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Modern characterization of electromagnetic systems and its associated metrology için kapak resmi
Modern characterization of electromagnetic systems and its associated metrology
Yazar 
Sarkar, Tapan (Tapan K.), editor. Salazar-Palma, Magdalena, editor. Zhu, Ming Da, editor. Chen, Heng, 1990- editor.
Yer Numarası 
QC760 .M53 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119076230
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard. Pougnet, Philippe. El Hami, Abdelkhalak.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119808244
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Applications and metrology at nanometer scale. 2, Measurement systems, quantum engineering and RBDO method için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 2, Measurement systems, quantum engineering and RBDO method
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard, author. Pougnet, Philippe, author. El Hami, Abdelkhalak, author.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119818984
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Advances in Manufacturing II Volume 5 - Metrology and Measurement Systems için kapak resmi
Advances in Manufacturing II Volume 5 - Metrology and Measurement Systems
Yazar 
Diering, Magdalena. editor. Wieczorowski, Michał. editor. Brown, Christopher A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-18682-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
The new International System of Units (SI) : quantum metrology and quantum standards için kapak resmi
The new International System of Units (SI) : quantum metrology and quantum standards
Yazar 
Göbel, Ernst O., author. Siegner, Uwe, author.
Yer Numarası 
QC91 .G63 2019
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527814480
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations için kapak resmi
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
Yazar 
Mansfield, Elisabeth, editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke, editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley Online Library
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç