Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(93)
Wiley InterScience (Online service)
(37)
John Wiley & Sons.
(6)
Francombe, Maurice H.
(5)
Morkoç, Hadis.
(5)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Semiconductors.
(128)
Electronic books.
(46)
Optical materials.
(45)
Physics.
(29)
Semiconductors -- Materials.
(28)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
518 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
481. 
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis için kapak resmi
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis
Yazar 
Magonov, Sergei N. Whangbo, Myung-Hwan. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527615117
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
482. 
Power electronics : Converters, applications, and design için kapak resmi
Power electronics : Converters, applications, and design
Yazar 
Mohan, Ned. Undeland, Tore M., ort. yaz. Robbins, William P., ort. yaz.
Yer Numarası 
TK 7881.15 M64 1995
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
483. 
Plasma deposition of amorphous silicon-based materials için kapak resmi
Plasma deposition of amorphous silicon-based materials
Yazar 
Bruno, Giovanni. Capezzuto, Pio. Madan, A. (Arun)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780121379407
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
484. 
Homojunction and quantum-well infrared detectors için kapak resmi
Homojunction and quantum-well infrared detectors
Yazar 
Francombe, Maurice H. Vossen, John L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780125330213
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
485. 
Principles of semiconductor network testing için kapak resmi
Principles of semiconductor network testing
Yazar 
Afshar, Amir.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750694728
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
486. 
Metal-insulator transitions revisited için kapak resmi
Metal-insulator transitions revisited
Yazar 
Edwards, P. P. (Peter P.) Mott, N. F. (Nevill Francis), Sir, 1905- Rao, C. N. R. (Chintamani Nagesa Ramachandra), 1934-
Yer Numarası 
QC176.8 .M48 M48 1995
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
487. 
Microwave Field-Effect Transistors Theory, design and applications için kapak resmi
Microwave Field-Effect Transistors Theory, design and applications
Yazar 
Pengelly, Raymond S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/SBEW016E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
488. 
Ion implantation technology-92 proceedings of the Ninth International Conference on Ion Implantation Technology, Gainesvile, FL, USA, September 20-24, 1992 için kapak resmi
Ion implantation technology-92 proceedings of the Ninth International Conference on Ion Implantation Technology, Gainesvile, FL, USA, September 20-24, 1992
Yazar 
International Conference on Ion Implantation Technology (9th : 1992 : Gainesville, Fla.) Downey, D. F.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444899941
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
489. 
Semiconductor materials analysis and fabrication process control proceedings of Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control of the 1992 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 2-5, 1992 için kapak resmi
Semiconductor materials analysis and fabrication process control proceedings of Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control of the 1992 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 2-5, 1992
Yazar 
Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control (1992 : Strasbourg, France) Crean, G. M. Stuck, R. Woollam, John A. European Materials Research Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444899088
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
490. 
Rapid thermal processing science and technology için kapak resmi
Rapid thermal processing science and technology
Yazar 
Fair, Richard B.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122476907
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
491. 
Metal-semiconductor contacts and related phenomena için kapak resmi
Metal-semiconductor contacts and related phenomena
Yazar 
Büget, Uğur.
Yer Numarası 
TK 7871.85 B83 1992
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
492. 
Spectroscopy of nonequilibrium electrons and phonons için kapak resmi
Spectroscopy of nonequilibrium electrons and phonons
Yazar 
Shank, C. V. (Charles V.) Zakharcheni͡a, Boris Petrovich.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444896377
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç