Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(42)
Wiley InterScience (Online service)
(16)
Montgomery, Douglas C.
(8)
Ross, Sheldon M.
(8)
Spiegel, Murray R.
(7)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Probabilities.
(244)
Electronic books.
(43)
Mathematical statistics.
(39)
OLASILIKLAR.
(33)
Statistics.
(29)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
422 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Theoretical Aspects of Software Engineering 17th International Symposium, TASE 2023, Bristol, UK, July 4-6, 2023, Proceedings için kapak resmi
Theoretical Aspects of Software Engineering 17th International Symposium, TASE 2023, Bristol, UK, July 4-6, 2023, Proceedings
Yazar 
David, Cristina. editor. Sun, Meng. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-35257-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design of Mechanical Systems Accelerated Lifecycle Testing and Reliability için kapak resmi
Design of Mechanical Systems Accelerated Lifecycle Testing and Reliability
Yazar 
Woo, Seongwoo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-28938-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Robust Control for Discrete-Time Markovian Jump Systems in the Finite-Time Domain için kapak resmi
Robust Control for Discrete-Time Markovian Jump Systems in the Finite-Time Domain
Yazar 
Luan, Xiaoli. author. He, Shuping. author. Liu, Fei. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-22182-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Distributed Economic Operation in Smart Grid: Model-Based and Model-Free Perspectives için kapak resmi
Distributed Economic Operation in Smart Grid: Model-Based and Model-Free Perspectives
Yazar 
Qin, Jiahu. author. Wan, Yanni. author. Li, Fangyuan. author. Kang, Yu. author. Fu, Weiming. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-8594-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Applied Technologies 4th International Conference, ICAT 2022, Quito, Ecuador, November 23-25, 2022, Revised Selected Papers, Part III için kapak resmi
Applied Technologies 4th International Conference, ICAT 2022, Quito, Ecuador, November 23-25, 2022, Revised Selected Papers, Part III
Yazar 
Botto-Tobar, Miguel. editor. (orcid) Zambrano Vizuete, Marcelo. editor. Montes León, Sergio. editor. Torres-Carrión, Pablo. editor. Durakovic, Benjamin. editor. (orcid)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-24978-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
AIxIA 2022 - Advances in Artificial Intelligence XXIst International Conference of the Italian Association for Artificial Intelligence, AIxIA 2022, Udine, Italy, November 28 - December 2, 2022, Proceedings için kapak resmi
AIxIA 2022 - Advances in Artificial Intelligence XXIst International Conference of the Italian Association for Artificial Intelligence, AIxIA 2022, Udine, Italy, November 28 - December 2, 2022, Proceedings
Yazar 
Dovier, Agostino. editor. Montanari, Angelo. editor. Orlandini, Andrea. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-27181-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Business Process Management 21st International Conference, BPM 2023, Utrecht, The Netherlands, September 11-15, 2023, Proceedings için kapak resmi
Business Process Management 21st International Conference, BPM 2023, Utrecht, The Netherlands, September 11-15, 2023, Proceedings
Yazar 
Di Francescomarino, Chiara. editor. Burattin, Andrea. editor. Janiesch, Christian. editor. Sadiq, Shazia. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-41620-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Reliability Engineering and Computational Intelligence for Complex Systems Design, Analysis and Evaluation için kapak resmi
Reliability Engineering and Computational Intelligence for Complex Systems Design, Analysis and Evaluation
Yazar 
van Gulijk, Coen. editor. (orcid)0000-0003-4541-2693 Zaitseva, Elena. editor. Kvassay, Miroslav. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-40997-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Probability foundations for engineers için kapak resmi
Probability foundations for engineers
Yazar 
Nachlas, Joel A., author.
Yer Numarası 
TA340
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003294382
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Advanced probability and statistics : applications to physics and engineering için kapak resmi
Advanced probability and statistics : applications to physics and engineering
Yazar 
Parthasarathy, Harish, author.
Yer Numarası 
QC174.85 .P76
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003345060
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
TEACHING AND LEARNING OF STATISTICS AND PROBABILITY a perspective rooted in quantitative reasoning and conceptual coherence. için kapak resmi
TEACHING AND LEARNING OF STATISTICS AND PROBABILITY a perspective rooted in quantitative reasoning and conceptual coherence.
Yazar 
Saldanha, Luis. Hatfield, Neil J. Chernoff, Egan J. Primi, Caterina.
Yer Numarası 
QA276.18
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003129653
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
How to measure anything in cybersecurity risk için kapak resmi
How to measure anything in cybersecurity risk
Yazar 
Hubbard, Douglas W., 1962- author. Seiersen, Richard, 1967- author.
Yer Numarası 
HV6773.15 .C97 H835 2023 EB
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119892335
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets