Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(70)
John Wiley & Sons.
(6)
Institute of Electrical and Electronics Engineers.
(3)
Irene, Eugene A.
(3)
Sansen, Willy. author.
(3)
Dil
Konu
Electronics.
(71)
Engineering.
(48)
Optical materials.
(19)
Systems engineering.
(19)
Chemistry.
(15)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
121 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Physik der Halbleiterbauelemente Einführendes Lehrbuch für Ingenieure und Physiker için kapak resmi
Physik der Halbleiterbauelemente Einführendes Lehrbuch für Ingenieure und Physiker
Yazar 
Thuselt, Frank. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138004
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Mikroelektronik Halbleiterbauelemente und deren Anwendung in elektronischen Schaltungen için kapak resmi
Mikroelektronik Halbleiterbauelemente und deren Anwendung in elektronischen Schaltungen
Yazar 
Tille, Thomas. author. Schmitt-Landsiedel, Doris. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138008
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Nanotechnology and Nanoelectronics Materials, Devices, Measurement Techniques için kapak resmi
Nanotechnology and Nanoelectronics Materials, Devices, Measurement Techniques
Yazar 
Fahrner, W. R. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137771
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Force Sensors for Microelectronic Packaging Applications için kapak resmi
Force Sensors for Microelectronic Packaging Applications
Yazar 
Schwizer, Jürg. author. Mayer, Michael. author. Brand, Oliver. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138345
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Ambient Intelligence için kapak resmi
Ambient Intelligence
Yazar 
Weber, Werner. editor. Rabaey, Jan M. editor. Aarts, Emile. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138670
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Konzepte siliziumbasierter MOS-Bauelemente için kapak resmi
Konzepte siliziumbasierter MOS-Bauelemente
Yazar 
Schulze, Jörg. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27547-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Schaltungstechnik — Analog und gemischt analog/digital Entwicklungsmethodik, Verstärkertechnik, Funktionsprimitive von Schaltkreisen için kapak resmi
Schaltungstechnik — Analog und gemischt analog/digital Entwicklungsmethodik, Verstärkertechnik, Funktionsprimitive von Schaltkreisen
Yazar 
Siegl, Johann. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27515-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Ferroelectric Thin Films Basic Properties and Device Physics for Memory Applications için kapak resmi
Ferroelectric Thin Films Basic Properties and Device Physics for Memory Applications
Yazar 
Okuyama, Masanori. editor. Ishibashi, Yoshihiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b99517
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Electronic Composites Modeling, Characterization, Processing, and MEMS Applications için kapak resmi
Electronic Composites Modeling, Characterization, Processing, and MEMS Applications
Yazar 
Taya, Minoru.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
Understanding delta-sigma data converters için kapak resmi
Understanding delta-sigma data converters
Yazar 
Schreier, Richard, 1961- Temes, Gabor C., 1929-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264508
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Fatal exit the automotive black box debate için kapak resmi
Fatal exit the automotive black box debate
Yazar 
Kowalick, Tom. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201877
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Software quality engineering Testing, quality assurance, and quantifiable improvement için kapak resmi
Software quality engineering Testing, quality assurance, and quantifiable improvement
Yazar 
Tian, Jeff. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5988897
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets