Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(46)
Birolini, Alessandro. author.
(4)
De Doncker, Rik. author.
(2)
Liu, Yong. author.
(2)
Lutz, Josef. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(26)
Engineering.
(17)
Electronic circuits.
(16)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(15)
Electronic Circuits and Systems.
(14)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
62 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
3D Microelectronic Packaging From Fundamentals to Applications için kapak resmi
3D Microelectronic Packaging From Fundamentals to Applications
Yazar 
Li, Yan. editor. Goyal, Deepak. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-44586-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Nanometer CMOS ICs From Basics to ASICs için kapak resmi
Nanometer CMOS ICs From Basics to ASICs
Yazar 
J.M. Veendrick, Harry. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-47597-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Nanoelectronics : materials, devices, applications için kapak resmi
Nanoelectronics : materials, devices, applications
Yazar 
Puers, R., editor.
Yer Numarası 
TK7874.84
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527800728
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Hardware Security and Trust Design and Deployment of Integrated Circuits in a Threatened Environment için kapak resmi
Hardware Security and Trust Design and Deployment of Integrated Circuits in a Threatened Environment
Yazar 
Sklavos, Nicolas. editor. Chaves, Ricardo. editor. Di Natale, Giorgio. editor. Regazzoni, Francesco. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-44318-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Physics and Technology of Crystalline Oxide Semiconductor CAAC-IGZO : Application to Displays için kapak resmi
Physics and Technology of Crystalline Oxide Semiconductor CAAC-IGZO : Application to Displays
Yazar 
Yamazaki, Shunpei, editor. Tsutsui, Tetsuo, editor.
Yer Numarası 
TK7871.85
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119247395
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling için kapak resmi
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Yazar 
Mahapatra, Souvik. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-81-322-2508-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Reliable Software for Unreliable Hardware A Cross Layer Perspective için kapak resmi
Reliable Software for Unreliable Hardware A Cross Layer Perspective
Yazar 
Rehman, Semeen. author. Shafique, Muhammad. author. Henkel, Jörg. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-25772-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Wafer-Level Chip-Scale Packaging Analog and Power Semiconductor Applications için kapak resmi
Wafer-Level Chip-Scale Packaging Analog and Power Semiconductor Applications
Yazar 
Qu, Shichun. author. Liu, Yong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1556-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Reliable Design of Electronic Equipment An Engineering Guide için kapak resmi
Reliable Design of Electronic Equipment An Engineering Guide
Yazar 
Natarajan, Dhanasekharan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09111-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective için kapak resmi
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1349-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Innovations and Advances in Computing, Informatics, Systems Sciences, Networking and Engineering için kapak resmi
Innovations and Advances in Computing, Informatics, Systems Sciences, Networking and Engineering
Yazar 
Sobh, Tarek. editor. Elleithy, Khaled. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-06773-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç