Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Chakrabarty, Krishnendu. author.
(3)
Drechsler, Rolf. author.
(3)
Calinescu, Radu. editor.
(2)
Dahlman, Ola. author.
(2)
Duan, Zhenhua. editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(28)
Systems engineering.
(22)
Electronics.
(17)
Computer science.
(16)
Computer hardware.
(8)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
189 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures için kapak resmi
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures
Yazar 
Navabi, Zainalabedin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces için kapak resmi
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
Yazar 
Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Detect and Deter: Can Countries Verify the Nuclear Test Ban? için kapak resmi
Detect and Deter: Can Countries Verify the Nuclear Test Ban?
Yazar 
Dahlman, Ola. author. Mackby, Jenifer. author. Mykkeltveit, Svein. author. Haak, Hein. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1676-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration için kapak resmi
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration
Yazar 
Zjajo, Amir. author. Pineda de Gyvez, José. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test için kapak resmi
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test
Yazar 
Liu, Ai-Qun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-46262-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies için kapak resmi
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Yazar 
Bosio, Alberto. author. Dilillo, Luigi. author. Girard, Patrick. author. Pravossoudovitch, Serge. author. Virazel, Arnaud. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Allgemeinbildung in Deutschland Erkenntnisse aus dem SPIEGEL-Studentenpisa-Test için kapak resmi
Allgemeinbildung in Deutschland Erkenntnisse aus dem SPIEGEL-Studentenpisa-Test
Yazar 
Verbeet, Markus. editor. Trepte, Sabine. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-531-92543-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links için kapak resmi
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Yazar 
Hong, Dongwoo. author. Cheng, Kwang-Ting. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
Test-Driven Development An Empirical Evaluation of Agile Practice için kapak resmi
Test-Driven Development An Empirical Evaluation of Agile Practice
Yazar 
Madeyski, Lech. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04288-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Intangible Impairment Qualitativer Impairment-Test für immaterielle Vermögenswerte için kapak resmi
Intangible Impairment Qualitativer Impairment-Test für immaterielle Vermögenswerte
Yazar 
Wöhrmann, Arnt. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8349-8448-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Parsing the Turing Test Philosophical and Methodological Issues in the Quest for the Thinking Computer için kapak resmi
Parsing the Turing Test Philosophical and Methodological Issues in the Quest for the Thinking Computer
Yazar 
Epstein, Robert. editor. Roberts, Gary. editor. Beber, Grace. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6710-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç