Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Chakrabarty, Krishnendu. author.
(3)
Drechsler, Rolf. author.
(3)
Jain, Lakhmi C. editor.
(3)
Joshi, Amit. editor.
(3)
Patnaik, Srikanta. editor.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computational intelligence.
(29)
Engineering.
(28)
Artificial intelligence.
(23)
Electronics.
(22)
Mechanics, Applied.
(22)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
315 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs için kapak resmi
Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Yazar 
Bou-Sleiman, Sleiman. author. Ismail, Mohammed. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9548-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Industrial Process Identification and Control Design Step-test and Relay-experiment-based Methods için kapak resmi
Industrial Process Identification and Control Design Step-test and Relay-experiment-based Methods
Yazar 
Liu, Tao. author. Gao, Furong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-977-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings için kapak resmi
Progress in VLSI Design and Test 16th International Symposium, VDAT 2012, Shibpur, India, July 1-4, 2012. Proceedings
Yazar 
Rahaman, Hafizur. editor. Chattopadhyay, Sanatan. editor. Chattopadhyay, Santanu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Is There a Court for Gaza? A Test Bench for International Justice için kapak resmi
Is There a Court for Gaza? A Test Bench for International Justice
Yazar 
Meloni, Chantal. editor. Tognoni, Gianni. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-6704-820-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures için kapak resmi
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures
Yazar 
Navabi, Zainalabedin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration için kapak resmi
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration
Yazar 
Zjajo, Amir. author. Pineda de Gyvez, José. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces için kapak resmi
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
Yazar 
Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Detect and Deter: Can Countries Verify the Nuclear Test Ban? için kapak resmi
Detect and Deter: Can Countries Verify the Nuclear Test Ban?
Yazar 
Dahlman, Ola. author. Mackby, Jenifer. author. Mykkeltveit, Svein. author. Haak, Hein. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1676-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Allgemeinbildung in Deutschland Erkenntnisse aus dem SPIEGEL-Studentenpisa-Test için kapak resmi
Allgemeinbildung in Deutschland Erkenntnisse aus dem SPIEGEL-Studentenpisa-Test
Yazar 
Verbeet, Markus. editor. Trepte, Sabine. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-531-92543-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies için kapak resmi
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Yazar 
Bosio, Alberto. author. Dilillo, Luigi. author. Girard, Patrick. author. Pravossoudovitch, Serge. author. Virazel, Arnaud. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test için kapak resmi
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test
Yazar 
Liu, Ai-Qun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-46262-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç