Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(369)
Wiley InterScience (Online service)
(27)
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
(9)
John Wiley & Sons.
(8)
Nakagawa, Toshio. author.
(6)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
System safety.
(147)
Engineering.
(136)
Reliability (Engineering)
(75)
Reliability.
(75)
Industrial safety.
(62)
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
668 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39535-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Ternary Networks Reliability and Monte Carlo için kapak resmi
Ternary Networks Reliability and Monte Carlo
Yazar 
Gertsbakh, Ilya. author. Shpungin, Yoseph. author. Vaisman, Radislav. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-06440-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Computer system reliability safety and usability için kapak resmi
Computer system reliability safety and usability
Yazar 
Dhillon, B. S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Electricity infrastructure reliability and vulnerabilities için kapak resmi
Electricity infrastructure reliability and vulnerabilities
Yazar 
Guerritore, Walter B.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=564180
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Yazar 
Maricau, Elie. author. Gielen, Georges. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331961.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Reliability models for engineers and scientists için kapak resmi
Reliability models for engineers and scientists
Yazar 
Kaminskiy, Mark, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Lead Free Solder Mechanics and Reliability için kapak resmi
Lead Free Solder Mechanics and Reliability
Yazar 
Pang, John Hock Lye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0463-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Accelerated reliability and durability testing technology için kapak resmi
Accelerated reliability and durability testing technology
Yazar 
Klyatis, Lev M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
ebrary http://site.ebrary.com/id/10592157
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=693204
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Semiconductor process reliability in practice için kapak resmi
Semiconductor process reliability in practice
Yazar 
Gan, Zhenghao. Wong, Waisum. Liou, Juin J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
Reliability and maintenance networks and systems için kapak resmi
Reliability and maintenance networks and systems
Yazar 
Beichelt, Frank, 1942- Tittmann, Peter.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Semiconductor packaging materials interaction and reliability için kapak resmi
Semiconductor packaging materials interaction and reliability
Yazar 
Chen, Andrea. Lo, Randy.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Reliability and availability of cloud computing için kapak resmi
Reliability and availability of cloud computing
Yazar 
Bauer, Eric. Adams, Randee. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6266788
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç