Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(482)
Wiley InterScience (Online service)
(27)
Taylor and Francis.
(10)
Nakagawa, Toshio. author.
(9)
John Wiley & Sons.
(8)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
System safety.
(147)
Engineering.
(137)
Reliability (Engineering)
(80)
Reliability.
(76)
Quality control.
(65)
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
911 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability Aspect of Cloud Computing Environment için kapak resmi
Reliability Aspect of Cloud Computing Environment
Yazar 
Kumar, Vikas. author. Vidhyalakshmi, R. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-3023-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability için kapak resmi
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability
Yazar 
Lutz, Josef. author. Schlangenotto, Heinrich. author. Scheuermann, Uwe. author. De Doncker, Rik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-70917-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
In-Service Fatigue Reliability of Structures için kapak resmi
In-Service Fatigue Reliability of Structures
Yazar 
Petinov, Sergei V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-89318-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Quality and Reliability in Analytical Chemistry. için kapak resmi
Quality and Reliability in Analytical Chemistry.
Yazar 
Baiulescu, George E., author.
Yer Numarası 
QD75.4 .Q34
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/e/9781420038576
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/e/9780429127441
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429127441
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Wire Ropes Tension, Endurance, Reliability için kapak resmi
Wire Ropes Tension, Endurance, Reliability
Yazar 
Feyrer, Klaus. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-54996-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Risk and reliability in geotechnical engineering için kapak resmi
Risk and reliability in geotechnical engineering
Yazar 
Ching, Jianye, editor. Phoon, Kok-Kwang, editor.
Yer Numarası 
TA706 .R48 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Ternary Networks Reliability and Monte Carlo için kapak resmi
Ternary Networks Reliability and Monte Carlo
Yazar 
Gertsbakh, Ilya. author. Shpungin, Yoseph. author. Vaisman, Radislav. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-06440-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39535-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Reliability of large and complex systems için kapak resmi
Reliability of large and complex systems
Yazar 
Kołowrocki, Krzysztof, author.
Yer Numarası 
ONLINE(355886.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080999494
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Electricity infrastructure reliability and vulnerabilities için kapak resmi
Electricity infrastructure reliability and vulnerabilities
Yazar 
Guerritore, Walter B.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=564180
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Yazar 
Maricau, Elie. author. Gielen, Georges. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331961.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Reliability models for engineers and scientists için kapak resmi
Reliability models for engineers and scientists
Yazar 
Kaminskiy, Mark, 1946, author.
Yer Numarası 
TA169 .K36 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç