Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(22)
Bayer, Josef, contributor.
(3)
Frey, Werner, contributor.
(2)
Lewandrowski, Kai-Uwe.
(2)
Muysken, Pieter, contributor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
LANGUAGE ARTS & DISCIPLINES / Linguistics / General.
(10)
Syntax.
(5)
Engineering.
(3)
Grammar, Comparative and general -- Syntax.
(3)
Materials.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
52 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Making supply chain management work : design, implementation, partnerships, technology, and profits için kapak resmi
Making supply chain management work : design, implementation, partnerships, technology, and profits
Yazar 
Ayers, James B.
Yer Numarası 
HD38.5 .M35 2002
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Key topics in accident and emergency medicine için kapak resmi
Key topics in accident and emergency medicine
Yazar 
Evans, Rupert., author. Burke, Derek.
Yer Numarası 
RC86.7 .E93 2001
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Physics and applications of semiconductor quantum structures : proceedings of the International Workshop on Physics and Applications of Semiconductor Quantum Structures (Asian Science Seminar), Cheju Island, Korea, October 18-23, 1998 için kapak resmi
Physics and applications of semiconductor quantum structures : proceedings of the International Workshop on Physics and Applications of Semiconductor Quantum Structures (Asian Science Seminar), Cheju Island, Korea, October 18-23, 1998
Yazar 
International Workshop on Physics and Applications of Semiconductor Quantum Structures (1998 : Cheju Island, Korea) Yao, Takafumi. Woo, Jong-Chun. Kikai Shinko Kyokai. Han'guk Kwahak Chaedan.
Yer Numarası 
QC610.9 .I66 1998
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Computed electron micrographs and defect identification için kapak resmi
Computed electron micrographs and defect identification
Yazar 
Head, A. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780720417579
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç