Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(179)
Bhushan, Bharat. editor.
(10)
Fuchs, Harald. editor.
(9)
Lunze, Jan. author.
(6)
Povh, Bogdan. author.
(5)
Dil
Yayın Yılı
-
2006
(51)
2007
(40)
2005
(37)
2008
(26)
2009
(25)
Konu
Physics.
(101)
Chemistry.
(39)
Surfaces (Physics).
(36)
Engineering.
(35)
Nanotechnology.
(31)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
180 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Cryogenic Mixed Refrigerant Processes için kapak resmi
Cryogenic Mixed Refrigerant Processes
Yazar 
Gadhiraju, Venkatarathnam. author. Timmerhaus, Klaus D. editor. Rizzuto, Carlo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-78514-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Mid-Infrared Coherent Sources and Applications için kapak resmi
Mid-Infrared Coherent Sources and Applications
Yazar 
Ebrahim-Zadeh, Majid. editor. Sorokina, Irina T. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6463-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Semiconductor Device Physics and Design için kapak resmi
Semiconductor Device Physics and Design
Yazar 
Mishra, Umesh K. author. Singh, Jasprit. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6481-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Error Correction Codes for Non-Volatile Memories için kapak resmi
Error Correction Codes for Non-Volatile Memories
Yazar 
Micheloni, R. author. Marelli, A. author. Ravasio, R. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8391-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Microscopy of Semiconducting Materials 2007 için kapak resmi
Microscopy of Semiconducting Materials 2007
Yazar 
Cullis, A. G. editor. Midgley, P. A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8615-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Semiconductor Nanocrystal Quantum Dots Synthesis, Assembly, Spectroscopy and Applications için kapak resmi
Semiconductor Nanocrystal Quantum Dots Synthesis, Assembly, Spectroscopy and Applications
Yazar 
Rogach, Andrey L. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-75237-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Power Management of Digital Circuits in Deep Sub-Micron CMOS Technologies için kapak resmi
Power Management of Digital Circuits in Deep Sub-Micron CMOS Technologies
Yazar 
Henzler, Stephan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5081-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Structure and Biophysics – New Technologies for Current Challenges in Biology and Beyond için kapak resmi
Structure and Biophysics – New Technologies for Current Challenges in Biology and Beyond
Yazar 
Puglisi, Joseph D. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5900-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Electron Correlation in New Materials and Nanosystems için kapak resmi
Electron Correlation in New Materials and Nanosystems
Yazar 
Scharnberg, Kurt. editor. Kruchinin, Sergei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5659-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Applied Scanning Probe Methods VI Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VI Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11776314
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11785705
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç