Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(60)
Wiley InterScience (Online service)
(7)
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
(3)
Good, Phillip I.
(3)
Hardin, James W. (James William)
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Medical Errors -- prevention & control.
(11)
Medical errors -- Prevention.
(10)
Engineering.
(7)
Turkish language -- Errors of usage.
(7)
Human engineering.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
239 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Dependability in Electronic Systems Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances için kapak resmi
Dependability in Electronic Systems Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances
Yazar 
Kanekawa, Nobuyasu. author. Ibe, Eishi H. author. Suga, Takashi. author. Uematsu, Yutaka. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6715-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
Truth, errors, and lies : politics and economics in a volatile world için kapak resmi
Truth, errors, and lies : politics and economics in a volatile world
Yazar 
Kołodko, Grzegorz W. Brand, William R.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://www.jstor.org/stable/10.7312/kolo15068
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Speed up your Spanish strategies to avoid common errors için kapak resmi
Speed up your Spanish strategies to avoid common errors
Yazar 
Muñoz-Basols, Javier. David, Marianne. Núñez Piñeiro, Olga.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations için kapak resmi
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations
Yazar 
Garg, Rajesh. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Common errors in statistics (and how to avoid them) için kapak resmi
Common errors in statistics (and how to avoid them)
Yazar 
Good, Phillip I. Hardin, James W. (James William)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=468930
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470473924
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=468930
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Advanced Potentiometry Potentiometric Titrations and Their Systematic Errors için kapak resmi
Advanced Potentiometry Potentiometric Titrations and Their Systematic Errors
Yazar 
Néher-Neumann, Erzsébet. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-9525-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis, Correction and Repair için kapak resmi
Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis, Correction and Repair
Yazar 
Chang, Kai-hui. author. Markov, Igor L. author. Bertacco, Valeria. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-9365-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Inborn errors of development : the molecular basis of clinical disorders of morphogenesis için kapak resmi
Inborn errors of development : the molecular basis of clinical disorders of morphogenesis
Yazar 
Epstein, Charles J. Erickson, Robert P., 1939- Wynshaw-Boris, Anthony Joseph.
Yer Numarası 
QZ 50 I35 2008
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Verilog and SystemVerilog Gotchas 101 Common Coding Errors and How to Avoid Them için kapak resmi
Verilog and SystemVerilog Gotchas 101 Common Coding Errors and How to Avoid Them
Yazar 
Sutherland, Stuart. author. Mills, Don. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71715-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
A study of the interlanguage of Turkish learners of English on the basis of their intralingual grammar errors için kapak resmi
A study of the interlanguage of Turkish learners of English on the basis of their intralingual grammar errors
Yazar 
Kesici, Yüsra.
Yer Numarası 
TEZ/5775 K481 2003
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Know the risk learning from errors and accidents : safety and risk in today's technology için kapak resmi
Know the risk learning from errors and accidents : safety and risk in today's technology
Yazar 
Duffey, R. B. (Romney B.) Saull, John Walton, 1935-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750675963
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Common errors in statistics (and how to avoid them) için kapak resmi
Common errors in statistics (and how to avoid them)
Yazar 
Good, Phillip I. Hardin, James W. (James William) John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Book review (E-STREAMS) http://www.e-streams.com/es0709/es0709%5F3579.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471463760
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley046/2003043279.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10577644
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç