Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(31)
Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
(3)
Yadav, Sanjay. editor.
(3)
Astakhov, Viktor P., author.
(2)
Collège français de métrologie.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Metrology.
(19)
Electronic books.
(18)
Engineering.
(8)
Nanotechnology.
(8)
Machinery.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
118 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
49. 
Handbook of 3D machine vision : optical metrology and imaging için kapak resmi
Handbook of 3D machine vision : optical metrology and imaging
Yazar 
Song, Zhang.
Yer Numarası 
TK8315 .H36 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
50. 
A practical guide to optical metrology for thin films için kapak resmi
A practical guide to optical metrology for thin films
Yazar 
Quinten, Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Check for Full Text Access restricted: MSVU users only
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527664344
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
51. 
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics için kapak resmi
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics
Yazar 
Proulx, Tom. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0228-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
52. 
The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks için kapak resmi
The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks
Yazar 
Hebra, Alexius J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-78381-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
53. 
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology için kapak resmi
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. Kujawinska, Malgorzata. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03051-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
54. 
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science için kapak resmi
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science
Yazar 
Pavese, Franco. editor. Forbes, Alistair B. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4804-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
55. 
Quality Assurance for Chemistry and Environmental Science Metrology from pH Measurement to Nuclear Waste Disposal için kapak resmi
Quality Assurance for Chemistry and Environmental Science Metrology from pH Measurement to Nuclear Waste Disposal
Yazar 
Meinrath, G. author. Schneider, Petra. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71273-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
56. 
Microwave Circuit Theory and Foundations of Microwave Metrology için kapak resmi
Microwave Circuit Theory and Foundations of Microwave Metrology
Yazar 
Engen, Glenn F.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBEL009E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
57. 
Handbook of surface and nanometrology için kapak resmi
Handbook of surface and nanometrology
Yazar 
Whitehouse, D. J. (David J.), author. Whitehouse, D. J. (David J.). Handbook of surface metrology.
Yer Numarası 
TA418.7 .W47 2011
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
58. 
Handbook of surface and nanometrology için kapak resmi
Handbook of surface and nanometrology
Yazar 
Whitehouse, D. J. (David J.), author. Whitehouse, D. J. (David J.). Handbook of surface metrology.
Yer Numarası 
TA418.7 .W45 2003
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
59. 
Accuracy and Calibration Failures in Science and Engineering. için kapak resmi
Accuracy and Calibration Failures in Science and Engineering.
Yazar 
Holloway, Michael D.
Yer Numarası 
TA165
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394417056
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
60. 
Psychometrics, Test Theory, and the Latent Factors Model. için kapak resmi
Psychometrics, Test Theory, and the Latent Factors Model.
Yazar 
Blahus, Pet. Blahus, Petr/Brown, Bruce L. Bunderson, C. Victor.
Yer Numarası 
XX(600387.1)
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119312246
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç