Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(811)
Steyaert, Michiel. author.
(11)
Steyaert, Michiel. editor.
(9)
Drechsler, Rolf. author.
(8)
Ismail, Mohammed. author.
(8)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(654)
Electronics.
(338)
Computer science.
(161)
Computer aided design.
(144)
Circuits and Systems.
(104)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
942 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
649. 
Static Timing Analysis for Nanometer Designs A Practical Approach için kapak resmi
Static Timing Analysis for Nanometer Designs A Practical Approach
Yazar 
Chadha, Rakesh. author. Bhasker, J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-93820-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
650. 
Circuit Simulation with SPICE OPUS Theory and Practice için kapak resmi
Circuit Simulation with SPICE OPUS Theory and Practice
Yazar 
Tuma, Tadej. author. Buermen, Árpád. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4867-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
651. 
Nanosystems Design and Technology için kapak resmi
Nanosystems Design and Technology
Yazar 
Micheli, Giovanni. author. Leblebici, Yusuf. author. Gijs, Martin. author. Vörös, Janos. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0255-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
652. 
Clocking in Modern VLSI Systems için kapak resmi
Clocking in Modern VLSI Systems
Yazar 
Xanthopoulos, Thucydides. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0261-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
653. 
Open Verification Methodology Cookbook için kapak resmi
Open Verification Methodology Cookbook
Yazar 
Glasser, Mark. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0968-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
654. 
Introduction to Embedded System Design Using Field Programmable Gate Arrays için kapak resmi
Introduction to Embedded System Design Using Field Programmable Gate Arrays
Yazar 
Dubey, Rahul. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-016-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
655. 
Electromagnetic Field Computation by Network Methods için kapak resmi
Electromagnetic Field Computation by Network Methods
Yazar 
Russer, Peter. author. Mongiardo, Mauro. author. Felsen, Leopold B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-93946-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
656. 
Integrated Circuit and System Design. Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation 18th International Workshop, PATMOS 2008, Lisbon, Portugal, September 10-12, 2008. Revised Selected Papers için kapak resmi
Integrated Circuit and System Design. Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation 18th International Workshop, PATMOS 2008, Lisbon, Portugal, September 10-12, 2008. Revised Selected Papers
Yazar 
Svensson, Lars. editor. Monteiro, José. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-95948-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
657. 
Logic Synthesis for FSM-Based Control Units için kapak resmi
Logic Synthesis for FSM-Based Control Units
Yazar 
Barkalov, Alexander. author. Titarenko, Larysa. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04309-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
658. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
659. 
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests için kapak resmi
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Ahmed, Nisar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
660. 
mm-Wave Silicon Technology 60 GHz and Beyond için kapak resmi
mm-Wave Silicon Technology 60 GHz and Beyond
Yazar 
Niknejad, Ali M. editor. Hashemi, Hossein. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76561-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç