Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(12)
Wiley InterScience (Online service)
(5)
Bacon, George Edward, 1917-
(3)
Al-Azzawi, Abdul.
(2)
Alexander, Leroy E., ort. yaz.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Crystallography.
(12)
X-IŞINLARI -- IŞIK KIRILMASI.
(11)
X-rays -- Diffraction.
(11)
Diffraction.
(9)
Chemistry.
(7)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
140 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
73. 
Applications of Synchrotron Light to Scattering and Diffraction in Materials and Life Sciences için kapak resmi
Applications of Synchrotron Light to Scattering and Diffraction in Materials and Life Sciences
Yazar 
Gomez, Marian. editor. Nogales, Aurora. editor. Garcia-Gutierrez, Mari Cruz. editor. Ezquerra, T.A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-95968-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
74. 
Theory of Edge Diffraction in Electromagnetics Origination and validation of the physical theory of diffraction için kapak resmi
Theory of Edge Diffraction in Electromagnetics Origination and validation of the physical theory of diffraction
Yazar 
Ufimtsev, Pyotr Yakovlevich Terzuoli, Andrew J., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/SBEW054E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
75. 
X-ışını kırınımı yöntemi ile fosfazen ligandlarının ve komplekslerinin kristal yapı analizleri = Crystal structure analysis of phosphazene ligands and their complexes by X-ray diffraction method için kapak resmi
X-ışını kırınımı yöntemi ile fosfazen ligandlarının ve komplekslerinin kristal yapı analizleri = Crystal structure analysis of phosphazene ligands and their complexes by X-ray diffraction method
Yazar 
Öztürk, Aslı.
Yer Numarası 
TEZ/9054 O98 2009
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
76. 
Basics of x-ray diffraction and its applications /cK. Ramakanth Hebbar. için kapak resmi
Basics of x-ray diffraction and its applications /cK. Ramakanth Hebbar.
Yazar 
Hebbar, K. Ramakanth.
Yer Numarası 
QC482.D5 H43 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
77. 
Powder Diffraction The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data için kapak resmi
Powder Diffraction The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data
Yazar 
Will, Georg. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27986-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
78. 
X-ışını kırınımı yöntemi ile spiro,ansa,bino Ve spiro-ansa fosfazen ligandlarının kristal yapı analizleri = Crystal structure analysis of spiro,ansa,bino And spiro-ansa phosphazene ligands by X-Ray diffraction method için kapak resmi
X-ışını kırınımı yöntemi ile spiro,ansa,bino Ve spiro-ansa fosfazen ligandlarının kristal yapı analizleri = Crystal structure analysis of spiro,ansa,bino And spiro-ansa phosphazene ligands by X-Ray diffraction method
Yazar 
Çaylak, Nagihan.
Yer Numarası 
TEZ/7816 .C385 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
79. 
X-Işını kırınımı yöntemiyle kripta-fosfazen türevlerinin kristal yapı analizi = Crystal structure analysis of crypta-phosphazane derivatives by X-Ray diffraction method için kapak resmi
X-Işını kırınımı yöntemiyle kripta-fosfazen türevlerinin kristal yapı analizi = Crystal structure analysis of crypta-phosphazane derivatives by X-Ray diffraction method
Yazar 
Tercan, Mustafa Barış.
Yer Numarası 
TEZ/7635 .T315 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
80. 
Introduction to the characterization of residual stress by neutron diffraction için kapak resmi
Introduction to the characterization of residual stress by neutron diffraction
Yazar 
Hutchings, Michael T.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
81. 
Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials için kapak resmi
Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials
Yazar 
Pecharsky, Vitalij K. author. Zavalij, Peter Y. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b106242
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
82. 
X-ışını kırınımı yöntemi ile bazı fosfaza-lariat eterlerin kristal yapı analizi = Crystal structure analysis of some phosphazalariat ethers By X- Ray Diffraction method için kapak resmi
X-ışını kırınımı yöntemi ile bazı fosfaza-lariat eterlerin kristal yapı analizi = Crystal structure analysis of some phosphazalariat ethers By X- Ray Diffraction method
Yazar 
Safran, Serap.
Yer Numarası 
TEZ/7133 S1289 2005
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
83. 
Bazı 15-crown-5 eterlerinin kristal yapısının ve konformasyonlarının x-ışınları kırınımı ve moleküler mekanik yöntemlerle incelenmesi = Crystal structures and conformational analysis of some 15-crown-5 ethers by x-ray diffraction and molecular mechanics calculations için kapak resmi
Bazı 15-crown-5 eterlerinin kristal yapısının ve konformasyonlarının x-ışınları kırınımı ve moleküler mekanik yöntemlerle incelenmesi = Crystal structures and conformational analysis of some 15-crown-5 ethers by x-ray diffraction and molecular mechanics calculations
Yazar 
Doğan, Nermin.
Yer Numarası 
TEZ/7246 D654 2005
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
84. 
Analysis of residual stress by diffraction using neutron and synchrotron radiation için kapak resmi
Analysis of residual stress by diffraction using neutron and synchrotron radiation
Yazar 
Fitzpatrick, M. E. (Michael E.) Lodini, Alain.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç