Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(660)
Wiley InterScience (Online service)
(25)
Bhushan, Bharat. editor.
(19)
Fuchs, Harald. editor.
(10)
Wang, Zhiming M. editor.
(10)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Chemistry.
(209)
Engineering.
(192)
Surfaces (Physics).
(139)
Physics.
(120)
Optical materials.
(110)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
940 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
853. 
BioMEMS and biomedical nanotechnology için kapak resmi
BioMEMS and biomedical nanotechnology
Yer Numarası 
TP248.25.N35 B56 2006 V.4
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
854. 
Nanotechnology for environmental remediation için kapak resmi
Nanotechnology for environmental remediation
Yazar 
Joo, Sung Hee. Cheng, I. Francis.
Yer Numarası 
TD192.8 .J66 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
855. 
Molecular and nano electronics analysis, design and simulation için kapak resmi
Molecular and nano electronics analysis, design and simulation
Yazar 
Seminario, J. M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444527257
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
856. 
Advanced Magnetic Nanostructures için kapak resmi
Advanced Magnetic Nanostructures
Yazar 
Sellmyer, David. editor. Skomski, Ralph. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b101199
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
857. 
Leakage in Nanometer CMOS Technologies için kapak resmi
Leakage in Nanometer CMOS Technologies
Yazar 
Narendra, Siva G. author. Chandrakasan, Anantha. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28133-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
858. 
Nanotechnology for Environmental Remediation için kapak resmi
Nanotechnology for Environmental Remediation
Yazar 
Joo, Sung Hee. author. Cheng, I. Francis. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137366
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
859. 
Nanostructured Coatings için kapak resmi
Nanostructured Coatings
Yazar 
Cavaleiro, Albano. editor. Hosson, Jeff Th. M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-48756-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
860. 
Low-Power Low-Voltage Sigma-Delta Modulators in Nanometer CMOS için kapak resmi
Low-Power Low-Voltage Sigma-Delta Modulators in Nanometer CMOS
Yazar 
Yao, Libin. author. Steyaert, Michiel. author. Sansen, Willy. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4140-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
861. 
AmIware Hardware Technology Drivers of Ambient Intelligence için kapak resmi
AmIware Hardware Technology Drivers of Ambient Intelligence
Yazar 
Mukherjee, Satyen. editor. Aarts, Ronald M. editor. Roovers, Raf. editor. Widdershoven, Frans. editor. Ouwerkerk, Martin. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4198-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
862. 
Carbon Nanotubes için kapak resmi
Carbon Nanotubes
Yazar 
Popov, Valentin N. editor. Lambin, Philippe. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4574-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
863. 
Functional Properties of Nanostructured Materials için kapak resmi
Functional Properties of Nanostructured Materials
Yazar 
Kassing, Rainer. editor. Petkov, Plamen. editor. Kulisch, Wilhelm. editor. Popov, Cyril. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4594-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
864. 
Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM için kapak resmi
Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Yazar 
Egerton, Ray F. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136495
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç