Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(563)
Wiley InterScience (Online service)
(54)
Everitt, Brian.
(9)
John Wiley & Sons.
(9)
Hogg, Robert V.
(7)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Mathematical statistics.
(694)
Statistics.
(423)
Economics -- Statistics.
(136)
Distribution (Probability theory).
(100)
Mathematics.
(83)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
967 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Fundamentals of exploratory analysis of variance için kapak resmi
Fundamentals of exploratory analysis of variance
Yazar 
Hoaglin, David C. (David Caster), 1944- Mosteller, Frederick, 1916-2006. Tukey, John W. (John Wilder), 1915-2000. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=468776
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316832
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Forecasting with dynamic regression models için kapak resmi
Forecasting with dynamic regression models
Yazar 
Pankratz, Alan, 1944- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Robust estimation and testing için kapak resmi
Robust estimation and testing
Yazar 
Staudte, Robert G. Sheather, Simon J., ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 276.8 S74 1990
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Accelerated testing statistical models, test plans and data analyses için kapak resmi
Accelerated testing statistical models, test plans and data analyses
Yazar 
Nelson, Wayne, 1936-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469757
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316795
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley047/89024853.html
HathiTrust Digital Library Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/20454343.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Finding groups in data an introduction to cluster analysis için kapak resmi
Finding groups in data an introduction to cluster analysis
Yazar 
Kaufman, Leonard. Rousseeuw, Peter J. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316801
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Statistical methods in engineering and quality assurance için kapak resmi
Statistical methods in engineering and quality assurance
Yazar 
John, Peter William Meredith.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/21329921.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316825
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Robust estimation and testing için kapak resmi
Robust estimation and testing
Yazar 
Staudte, Robert G. Sheather, Simon J. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Ebook Library Click here to view book
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Structural equations with latent variables için kapak resmi
Structural equations with latent variables
Yazar 
Bollen, Kenneth A.
Yer Numarası 
HA29 B732 1989
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Nonlinear regression analysis and its applications için kapak resmi
Nonlinear regression analysis and its applications
Yazar 
Bates, Douglas M. Watts, Donald G.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316757
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Sensitivity analysis in linear regression için kapak resmi
Sensitivity analysis in linear regression
Yazar 
Chatterjee, Samprit, 1938- Hadi, Ali S. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=468906
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316764
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/16923977.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Robust regression and outlier detection için kapak resmi
Robust regression and outlier detection
Yazar 
Rousseeuw, Peter J. Leroy, Annick M. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471725382
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Measurement error models için kapak resmi
Measurement error models
Yazar 
Fuller, Wayne A. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469407
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316665
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç